材料研究衍射儀

材料研究衍射儀是一種用於物理學、化學、地球科學、材料科學領域的分析儀器，於1997年01月01日啟用。

基本介紹

• 中文名：材料研究衍射儀
• 產地：荷蘭
• 學科領域：物理學、化學、地球科學、材料科學
• 啟用日期：1997年01月01日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

額定功率：2.2kw，額定電壓：60kv，最高管流：55mA。XRD測角儀：2θ/θ：0°-160°；空間旋轉：φ：0o-360°，ψ：-90o－+90°。角度精度：萬分之一度。解析度：普通光路：0.11o；高分辨光路：12秒（角度）。主要功能：相分析、搖擺曲線、φ掃描測量；薄膜反射率測定。

主要功能

額定功率2.2kw,角度精度萬分之一度,高分辨光路解析度12秒（角度）。測量光路實行模組化,變換方便.對粉末樣品,單晶和薄膜樣品都可以進行測試.可進行相分析、搖擺曲線、φ掃描測量；織構和應力測量;薄膜厚度和反射率測定;高分辨衍射和Q掃描等.。