電子背散射衍射系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2004年1月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:電子背散射衍射系統
- 產地:丹麥
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2004年1月1日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
電子背散射衍射系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2004年1月1日啟用。
電子背散射衍射系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2004年1月1日啟用。技術指標INCA Crystal電子背散射衍射系統(EBSD)是顯微分析領域最具活力和前景的亞微米級顯微分析技術手段。它作為掃描電鏡上的一個附...
背散射電子衍射系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年01月01日啟用。技術指標 工作距離5-40mm,加速電壓3kV束流小於100pA時刻採集到花樣,空間解析度小於0.1μm,角度解析度0.05度,配有資料庫系統等。主要功能 材料的晶體...
電子衍射雖與X射線衍射有相同的幾何原理。但它們的物理內容不同。在與晶體相互作用時,X射線受到晶體中電子云的散射,而電子受到原子核及其外層電子所形成勢場的散射。除以上用布喇格公式或用倒易點陣和反射球來描述產生電子衍射的衍射幾何...
電子背散射衍射(EBSD)技術已廣泛套用於材料微區晶體結構及取向的研究,提高該技術對晶體取向測定的角解析度對於許多材料低應變行為的表征具有重要的意義。本項目研究的主要目的是改進用商業化系統採集的EBSD數據進行晶體取向及取向差測定的角度...
《電子背散射衍射技術及其套用》是2007年冶金工業出版社出版的圖書,作者是楊平。內容簡介 電子背散射衍射(簡稱EBSD)技術是基於掃描電鏡中電子束在傾斜樣品表面激發出的衍射菊池帶的分析確定晶體結構、取向及相關信息的方法。本書系統地闡述...
《金屬平均晶粒度的測定—電子背散射衍射(EBSD)法》是2019年2月1日實施的一項中國國家標準。編制進程 2018年5月14日,《金屬平均晶粒度的測定—電子背散射衍射(EBSD)法》發布。2019年2月1日,《金屬平均晶粒度的測定—電子背散射衍射...
《微束分析―電子背散射衍射―平均晶粒尺寸的測定》是2021年2月1日將要實施的一項中國國家標準。編制進程 2020年3月6日,《微束分析―電子背散射衍射―平均晶粒尺寸的測定》發布。2021年2月1日,《微束分析―電子背散射衍射―平均晶粒...
第2章 掃描電子顯微鏡附屬設備結構、原理及操作 實驗一 能譜儀的基本結構、工作原理及操作 實驗二 電子背散射衍射儀的基本結構與工作原理 實驗三 電子背散射衍射數據採取操作 實驗四 電子背散射衍射數據分析處理 第3章 聚焦離子束系統...
二次電子圖像(SEI) 解析度1.5nm 背散射電子圖像(BEI) 解析度3.0nm X射線能譜儀(EDS) 解析度128ev 分析範圍B5~U92 電子背散射衍射(EBSP)空間解析度:0.5μm 採集時間20ms~2s/每菊池圖數字圖像採集系統 解析度512×384pix...
4.9.2聚焦離子束技術在電子組件失效分析中的套用 / 260 4.9.3 結束語 / 263 4.10電子背散射衍射技術及其在工藝分析中的套用 / 264 4.10.1 電子背散射衍射技術的基本原理 / 264 4.10.2 電子背散射衍射技術的基本功能...
岩石組構研究的最新技術 —電子背散射衍射 電子背散射衍射(EBSD)系統通常安裝在掃描電鏡(SEM)上。該技術通過採集樣品在高能電子束轟擊下產生的電子背散射衍射圖像,並將之與資料庫中不同晶體的EBSP模擬結果進行匹配,從而反演出樣品中晶體...
通過電子背散射衍射技術系統研究形變石英的面狀裂隙及面狀變形特徵的晶體取向;套用透射電子顯微鏡研究石英中的晶體位錯線等微結構及擊變石英玻璃和可能存在的石英高壓相,確定衝擊變質的獨特特徵;通過對不規則狀體在太湖區域的分布狀況研究...
13 探針電子顯微鏡分析技術 13.1 原子力顯微鏡 13.2 掃描隧道顯微鏡(STM)13.3 場離子顯微鏡(FIM)14 其他顯微分析技術 14.1 電子背散射衍射系統(EBSD)14.2 離子探針(SIMS)14.3 低能電子衍射(LEED)15 光譜分析技術 15.1 ...
6.6.1照明系統/174 6.6.2成像系統/177 6.6.3觀察記錄系統/178 6.7主要附屬檔案/178 6.7.1樣品傾斜裝置/178 6.7.2電子束的平移和傾斜裝置/179 6.7.3消像散器/179 6.7.4光闌/180 6.8透射電鏡中的電子衍射/...
第六節電子探針儀的結構與工作原理244 第七節電子探針儀的分析方法及套用248 習題250 第十三章電子背散射衍射分析 技術252 第一節概述252 第二節電子背散射衍射技術相關 晶體學取向基礎252 第三節電子背散射衍射技術硬體系統262 第四節...
第十四章 電子背散射衍射分析技術 第一節 概述 第二節 電子背散射衍射技術相關晶體學取向基礎 第三節 電子背散射衍射技術硬體系統 第四節 電子背散射衍射技術原理及花樣標定 第五節 電子背散射衍射技術成像及分析 第六節 電子背散射...
醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、考古以及其他領域中得到日益廣泛的套用。本儀器還配有INCA X-射線能譜儀和EBSD背散射電子衍射系統,元素分析範圍為4Be~92U,同時可進行晶體結構和取向分析。該儀器。主要功能 熱場發射環境掃描。
第十四章電子背散射衍射分析 技術199 第一節概述199 第二節電子背散射衍射技術相關晶體學 取向基礎199 第三節電子背散射衍射技術硬體系統209 第四節電子背散射衍射技術原理及花樣 標定211 第五節電子背散射衍射技術成像及 分析215 第六...
主要測試設備有:透射電子顯微鏡(含能譜);場發射掃描電鏡(含能譜、電子背散射衍射分析系統和STEM探頭);環境掃描電鏡(配有冷、熱台附屬檔案及能譜分析);X射線衍射儀(配有冷、熱台附屬檔案);X射線螢光探針;核磁共振波譜儀;園二色...
所有 Quanta SEM 系統均配置分析系統,如能譜儀,X射線波譜儀和電子背散射衍射分析系統。 此外,場發射 (FEG) 系統配備掃描透射(S/TEM) 探測器,以實現明場和暗場樣品成像。Nova™ NanoSEM 掃描電子顯微鏡 Nova 系列掃描電子顯微鏡 (...
第7章 背散射電子衍射 7.1 背散射電子衍射儀的工作原理 7.1.1 背散射電子衍射儀的基本構成 7.1.2 背散射電子衍射儀的工作原理 7.2 背散射電子衍射的套用 7.2.1 晶粒尺寸及形狀的分布 7.2.2 材料織構分析 7.2.3 晶粒...
3.3 知識點2-布拉格方程圖解與衍射方法 3.3.1 知識點2注意點 3.3.2 知識點2選擇題 3.4 知識點3-電子、原子、單胞對X射線散射 3.4.1 知識點3注意點 3.4.2 知識點3選擇題 3.5 知識點4-點陣消光與系統消光 ...