高角度分辯率電子背散射衍射分析技術研究

《高角度分辯率電子背散射衍射分析技術研究》是依託清華大學，由安迪擔任項目負責人的面上項目。

基本介紹

• 項目名稱：高角度分辯率電子背散射衍射分析技術研究
• 批准號：50571049
• 項目類別：面上項目
• 申請代碼：E0101
• 項目負責人：安迪
• 負責人職稱：教授
• 依託單位：清華大學
• 研究期限：2006-01-01 至 2008-12-31
• 支持經費：26（萬元）

項目摘要

電子背散射衍射(EBSD)技術已廣泛套用於材料微區晶體結構及取向的研究，提高該技術對晶體取向測定的角解析度對於許多材料低應變行為的表征具有重要的意義。本項目研究的主要目的是改進用商業化系統採集的EBSD數據進行晶體取向及取向差測定的角度解析度。該研究主要從兩個方面進行：一方面將針對標準電子背散射衍射(EBSD)取向成像圖方法。改進取向噪聲函式的表征，並運用由此得到的信息改善後處理過濾器，從而提高EBSD的角度解析度。另一方面是用現有的硬體進行EBSD花樣數據採集，但是利用全新的軟體分析工具進行取向差異的精確標定和分析，目標是將解析度提高到0.1 。