材料科學研究與測試方法第4版

內容簡介

《材料科學研究與測試方法（第4版）》首先介紹了晶體學基礎知識，然後系統介紹了X射線的物理基礎、X射線衍射的方向與強度、多晶體x射線衍射分析的方法、X射線衍射儀及其在物相鑑定、宏微觀應力與晶粒尺寸的測定、多晶體的織構分析、小角X射線散射、薄膜應力及厚度測定等方面的套用；介紹了電子衍射的物理基礎、透射電子顯微鏡的結構與原理、衍射成像、運動學襯度理論、高分辨透射電子顯微技術、掃描電鏡、掃描透射電鏡、電子背散射衍射及原子探針等；介紹了AES、XPS、XRF、STM、AFM、LEED等常用表面分析技術和TG、DTA、DSC等常用熱分析技術的原理、特點及其套用；後簡要介紹了紅外光譜、拉曼光譜和ICP等。書中研究和測試的材料包括金屬材料、無機非金屬材料、高分子材料、非晶態材料、金屬間化合物、複合材料等。對每章內容作了提綱式的小結，並附有適量的思考題。書中採用了一些作者尚未發表的圖片和曲線，同時在實例分析中還注重引入了一些當前材料界新的研究成果。

《材料科學研究與測試方法（第4版）》可作為材料科學與工程學科本科生的學習用書，也可供相關學科與專業的研究生、教師和科技工作者使用。

圖書目錄

1 晶體學基礎

1．1 晶體及其基本性質

1．1．1 晶體的概念

1．1．2 空間點陣的四要素

1．1．3 布拉菲陣胞

1．1．4 典型晶體結構

1．1．5 晶體的基本性質

1．1．6 準晶體簡介

1．2 晶向、晶面及晶帶

1．2．1 晶向及其表征

1．2．2 晶面及其表征

1．2．3 晶帶及其表征

1．3 晶體的巨觀對稱及點群

1．3．1 對稱的概念

1．3．2 對稱元素及對稱操作

1．3．3 對稱元素的組合及點群

1．3．4 晶體的分類

1．3．5 準晶體的點群及其分類

1．3．6 點群的國際符號

1．3．7 點群的聖佛利斯符號

1．4 晶體的微觀對稱與空間群

1．4．1 晶體的微觀對稱

1．4．2 晶體的空間群及其符號

1．5 晶體的投影

1．5．1 球面投影

1．5．2 極式網與烏氏網

1．5．3 晶帶的極射赤面投影

1．5．4 標準極射赤面投影圖（標準投影極圖或標準極圖）

1．6 倒易點陣

1．6．1 正點陣

1．6．2 倒點陣（倒易點陣）

1．6．3 正倒空間之間的關係

1．6．4 倒易矢量的基本性質

1．6．5 晶帶定律

1．6．6 廣義晶帶定律

本章小結

思考題

2 X射線的物理基礎

2．1 X射線的發展史

2．2 X射線的性質

2．2．1 X射線的產生

2．2．2 X射線的本質

材料科學研究與測試方法第4版

基本介紹

內容簡介

圖書目錄

熱門詞條