X射線衍射儀系統

X射線衍射儀系統是一種用於化學、藥學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2012年12月15日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線衍射儀系統
• 產地：荷蘭
• 學科領域：化學、藥學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術
• 啟用日期：2012年12月15日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

功率：3 kW 測角範圍(2θ)：0.1 ~ 140°測角準確度Δ(2θc)：0° 測角復現性（Sθd ）：0.001°。

主要功能

廣泛用於無機物、部分有機物、高分子、藥物、礦物等多晶樣品的分析。可進行物相定性、晶型鑑別、小角散射、長周期測定、取向度測定、粉末解結構及其它參數測定。