粉末X射線衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器，於2016年10月01日啟用。
X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為X射線衍射儀的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。（1） 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。（2） 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉末、多晶...
變溫全自動組合粉末多晶X-射線衍射儀是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2014年6月1日啟用。技術指標 該設備是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀，它採用了理學獨創的CBO交叉光學系統，一台儀器可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內的薄膜樣品測試。採用組合式結構，通過對各個單元的不同組合，...
高功率X射線粉末衍射儀的主要用途： 多晶衍射（粉末衍射）：定性分析、定量分析、晶粒大小、點陣參數、全譜結構最佳化擬合、巨觀殘餘應力。薄膜分析等。右衍射儀可獲得高強度的Kα1衍射譜，有利於分析低對稱晶系。數據處理具有先進的峰分離功能、固溶體分析功能、積分強度法及峰高強度法的定量分析功能、點陣參數最佳化功能...
高解析度粉末X射線衍射儀 高解析度粉末X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2009年11月30日啟用。技術指標 Cu靶，功率3kW，θ-θ測角儀，LynxEye陣列探測器。主要功能 可進行材料的物相鑑定和定量分析，並對材料的晶體結構、晶胞參數、晶粒大小等進行研究。
多晶X射線粉末衍射儀 多晶X射線粉末衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2014年7月1日啟用。技術指標 研究多晶樣品的成分和結構。主要功能 X射線衍射法研究多晶樣品的成分和結構。
原位X射線粉末衍射儀 原位X射線粉末衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年7月1日啟用。技術指標 粉末測試，結構精修，高低溫、原位結構剖析。主要功能 高低溫條件對電池性能影響 |充放電過程對電池微觀結構的改變。
XD2型自動X射線粉末衍射儀 XD2型自動X射線粉末衍射儀是由布萊格科技（北京）有限公司完成的科技成果，登記於2003年3月19日。成果信息 成果完成人 江超華；梁學明；羅英信
全自動智慧型型X射線粉末衍射儀 全自動智慧型型X射線粉末衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年12月20日啟用。技術指標 SmartLab3KW。主要功能 衍射分析。
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀，靶材及功率：Rh靶 4kW，可以對5B到92U進行快速定性、定量分析，元素的檢量範圍0.0001%~100%，雙泵、雙真空設計(樣品室/預抽真空室)，位置解析度可達100um，可以進行0...
X射線高分辨衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2007年1月15日啟用。技術指標 2Th準確度：最強峰位角度值與標準卡片值(35.153)之差0.01度；GM測試：最強峰值強度≥2.3E09cps,Si111樣品半高寬0.028度；四晶單色器測試：半高寬≤0.008度。主要功能 能完成粉末樣品、固體樣品的高靈敏度測試，微量相...
X射線衍射儀系統是一種用於化學、藥學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2012年12月15日啟用。技術指標 功率：3 kW 測角範圍(2θ)：0.1 ~ 140°測角準確度Δ(2θc)：0° 測角復現性（Sθd ）：0.001°。主要功能 廣泛用於無機物、部分有機物、高分子、藥物、礦物等多晶樣品的...
X射線衍射成像系統 X射線衍射成像系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2003年12月11日啟用。技術指標 測試角度從4-100，解析度比一般衍射儀高一倍。主要功能 對粉末材料進行X射線衍射分析。
GD 2000型高精度、垂直/水平測角儀具有高速率（1000º/min）、高精 度的角度重現性（±0.001º）保證高速測量 和高的數據可靠性。卡口式連線光鑭來實現X射線光束的準直確保光束在水平方向的完美調整；索拉狹縫限制垂直方向上光的發散。儀器介紹 APD 2000多功能衍射儀Ital structures 公司數字式粉末衍射系統，該...
X-衍射儀 X-衍射儀是一種用於物理學、地球科學領域的分析儀器，於2005年10月8日啟用。技術指標 sc探測器能量解析度E＜55%；儀器角度解析度D＜40% ；綜合穩定性＜±1.5%。主要功能 單礦物及礦物結構測定。
台式X射線衍射儀 台式X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2018年10月17日啟用。技術指標 PHA視窗寬度10-20div，Si粉末標準樣品的（220），（511），（620）面的衍射峰角度為Si(220)=47.263±0.1°，Si(511)=94.911±0.1°和Si(620)=127.507±0.1°。主要功能 對材料物相結構進行表征。
XRD衍射儀是一種用於化學工程、化學、中醫學與中藥學、生物學領域的分析儀器。技術指標 X射線發生器，最大功率3KW，最大管電壓60HV，電流80mA，垂直型測角儀，掃描範圍:-6°~163°(2θ), -180°~180°(θ)，掃描速度:0.1~50º/min(2θ),0.05~25°/min(θ)。配置微量樣品池，3Q認證。主要功能 晶...
小角散射X射線衍射儀 小角散射X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於1994年1月10日啟用。技術指標 轉靶12 kW；Cu靶 Ka1，波長0.15405 nm；角度解析度0.01°。主要功能 基於多晶粉末X射線衍射測定材料的晶體結構。
X射線衍射系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2015年12月7日啟用。技術指標 X射線高壓發生器：最大輸出功率：≥4KW；最大管電壓：≥60KV；最大管電流≥60mA； X射線燈管：最大電壓：≥60KV；最大電流≥60mA 測角儀：掃描半徑：≥600mm 最小步進角：+-0.0001° 掃描速度：0.1s-10s/step。主...
多晶X射線衍射分析儀是一種用於化學、地球科學、材料科學領域的分析儀器，於2013年8月31日啟用。技術指標 （1） Cu靶X光管電壓≤40KV,電流≤40mA; （2） 測角儀工作方式：?/?方式； （3） 掃描範圍：0-140°； （4） 測角儀精度：0.0001°，準確度≤0.02°。主要功能 對晶體粉末樣品進行X射線衍射分析...
主要的X射線分析儀器有單晶X射線衍射儀(主要用於晶體結構的確定)和多晶X射線衍射儀(又稱粉末X衍射儀，主要套用在物相分析、晶體結構分析、組構分析)。物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數據相比較，確定材料中存在的物相;...
組合式多功能X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2011年11月19日啟用。技術指標 1. X射線發生器功率為3 KW 2. 測角儀為水平測角儀 3. 測角儀最小步進為1/10000度 4. 測角儀配程式式可變狹縫 5. 高反射效率的石墨單色器 6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路（帶Mirror） ...
高壓原位X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2014年12月24日啟用。技術指標 溫度範圍：25℃-900℃；壓力範圍：0.1mbar-100bar；2θ轉動範圍：-40°-220° 可讀最小步長：0.0001° 角度重現性：0.0001°。主要功能 能在高壓原位條件下精確地對金屬、非金屬、多晶粉末樣品進行物相晶型結構分析，物相...
高溫X射線衍射儀 高溫X射線衍射儀是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器，於2013年05月30日啟用。技術指標 高溫固體探測0-2000℃ θ/θ分析方式。主要功能 進行固體、粉末的定性以及物質結構分析。
Empyrean 銳影X射線衍射系統，可用於粉末物相測定，薄膜物相測定，薄膜chi、phi掃描、薄膜應力測試以及搖擺曲線等高分辨精確測量等。其X光管全部採用金屬陶瓷材料製造，壽命長，陽極靶材與燈絲經過三維高精度定位；本儀器具有唯一的全能矩陣探測器：子探測器數目超過65000個，適應所有套用要求。其子探測器大小只有55μm X ...
X射線衍射儀 基本構成 （1） 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。（2） 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3） 射線檢測器 檢測衍射強度或同時檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統...
X射線粉末衍射 X射線粉末衍射（X-ray powder diffraction）是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞，出自《冶金學名詞》第二版。定義 利用X射線在多晶體粉末中的衍射行為來研究多晶體結構的分析方法。出處 《冶金學名詞》第二版
