X射線衍射成像系統

X射線衍射成像系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2003年12月11日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線衍射成像系統
• 產地：德國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2003年12月11日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀

技術指標

測試角度從4-100，解析度比一般衍射儀高一倍。

主要功能

對粉末材料進行X射線衍射分析。