X射線粉末衍射(X-ray powder diffraction)是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞,出自《冶金學名詞》第二版。
基本介紹
- 中文名:X射線粉末衍射
- 外文名:X-ray powder diffraction
- 所屬學科:冶金學
- 公布時間:2019年
X射線粉末衍射(X-ray powder diffraction)是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞,出自《冶金學名詞》第二版。
X射線粉末衍射(X-ray powder diffraction)是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞,出自《冶金學名詞》第二版。定義利用X射線在多晶體粉末中的衍射行為來研究多晶體結構的分析方法。1出處...
X射線粉末衍射法指的是在X射線衍射分析中,採用單色X射線對粉末狀多晶樣品進 行衍射分析的一種方法。多晶試樣大多數情況是多晶粉末, 也可以是多晶片或絲。衍射線條的位置、強度,可用德拜法、 聚焦法或針孔法等照相記錄。粉末法...
X射線衍射儀 基本構成 (1) 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。(2) 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體...
粉晶X射線衍射原理是用特徵x射線射到多晶粉末(或塊狀)上獲得衍射譜圖或數據的方法稱為粉晶法或粉末法。用單色x射線作為入射光源,入射線以固定方向射到多晶粉末或多晶塊狀樣品上,靠粉晶中各晶粒取向不同的衍射面來滿足布拉格方程。由...
從衍射X射線強度的比較,可進行定量分析。本法的特點在於可以獲得元素存在的化合物狀態、原子間相互結合的方式,從而可進行價態分析,可用於對環境固體污染物的物相鑑定,如大氣顆粒物中的風砂和土壤成分、工業排放的金屬及其化合物(粉塵...
1、X射線發生器的穩定度:這不僅關係到所測衍射強度的準確可靠,而且關係到所有部件的準確和穩定。現代粉末衍射儀的光源穩定性一般在外電源變化10%以內,輸出變化0.01%以內。2、X射線管的功率:對於密封式X射線管,Cu靶一般為2kw,Ag...
多晶粉末X射線衍射儀是一種用於核科學技術領域的分析儀器,於2015年12月10日啟用。技術指標 1.工作溫度:15-25 °C 2.工作濕度:40-80 % 3.UPS電源:30 kVA(220-240 V +/– 10 %, 50-60 Hz) 4.最大輸出功率:2....
高分辨高精度X射線粉末衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年5月12日啟用。技術指標 Ka1單色器,配毛細管旋轉樣品台; 高溫樣品台:室溫至1200oC; 解析度:0.001,最大電壓60kV,最大電流60mA,功率3000W; 衍射樣品台,...
單晶X射線衍射分析一般可測定該礦物的晶體結構;多晶態(包括準晶態)樣品呈微細粉末或細粒集合體,對此類樣品的分析稱粉末X射線衍射分析,可以測定礦物類質同象代替組分的含量、有序度、多礦物混合物的物相組成及定量(或半定量)估算各...
小角X射線散射是一種區別於X射線大角(2θ從5 ~165 )衍射的結構分析方法。利用X射線照射樣品,相應的散射角2θ小(5 ~7 ),即為X射線小角散射。用於分析特大晶胞物質的結構分析以及測定粒度在幾十個納米以下超細粉末粒子(或...
多功能粉末X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年3月7日啟用。技術指標 測角準確度:≤0.01°重複性:≤0.001° 一維探測器通道256,二維探測器通道385。主要功能 晶體物質物相,半定量,定量分析,晶粒大小,結晶度...
利用晶體對X射線的衍射效應來分析、鑑別結晶物質物相的一種方法。釋文 通常將粉末法得出的面網間距d和相對強度的數據,與已知的標準物相的數據進行對比,也可直接對比粉末圖,從而作出分析、鑑別。這種方法的特點是:①能夠分析、鑑別結晶...
《粉末多晶X射線衍射技術原理及套用》是2011年鄭州大學出版社出版的圖書,作者是張海軍、賈全利、董林。內容介紹 《粉末多晶X射線衍射技術原理及套用》共分12章,側重於講述衍射技術的套用。第1章和第2章為晶體學和X射線衍射原理,第3...
高解析度粉末X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2009年11月30日啟用。技術指標 Cu靶,功率3kW,θ-θ測角儀,LynxEye陣列探測器。主要功能 可進行材料的物相鑑定和定量分析,並對材料的晶體結構、晶胞參數、晶粒大小等進行...
主要的X射線分析儀器有單晶X射線衍射儀(主要用於晶體結構的確定)和多晶X射線衍射儀(又稱粉末X衍射儀,主要套用在物相分析、晶體結構分析、組構分析)。物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。前者把對材料測...
閃爍計數器, 線性範圍:0-2*106CPS,資料庫含11.7萬張標準圖譜。主要功能 樣品通常為小塊金屬或粉末,又稱粉末X射線衍射儀。利用多晶樣品對X射線的衍射效應,記錄和分析X射線衍射圖譜,可以對樣品進行物相定性和定量分析。
滑石粉快速定性篩選粉末X射線衍射法 《滑石粉快速定性篩選粉末X射線衍射法》是2014年6月1日實施的一項行業標準。起草單位 遼寧出入境檢驗檢疫局等。起草人 趙景紅、陳新、劉名揚。
《粉末衍射法測定晶體結構》是2011年科學出版社出版的圖書,作者是梁敬魁。內容簡介 晶體結構是了解固體材料性質的重要基礎,X射線粉末衍射法是提供有關晶體結構信息的主要方法之一。《粉末衍射法測定晶體結構(第2版)(套裝上下冊)》由...
X射線散射研究是用來測定粉末相的晶體結構,收集極小晶體的衍射強度,可準確地鑑定粉末相的成因機制。基本簡介 學科:岩礦分析與鑑定 詞目:X射線散射研究 英文:X-ray scatter analysis 釋文 X射線散射研究是用來測定粉末相的晶體結構,...
13.2薄膜分析中的常用X射線方法310 13.2.1常規粉末衍射法310 13.2.2掠入射X射線衍射310 13.2.3小角X射線散射312 13.2.4雙晶衍射儀313 13.3掠入射X射線衍射313 13.3.1掠入射X射線衍射全反射314 13.3.2多層膜結構對X射線...
該法給出一套基本數據——d-I 值 (衍射面間距和衍射強度)。根據這些數據可進行物相分析、計算晶胞參數、確定空間點陣型式以及測定簡單金屬和化合物的晶體結構。樣品通常為塊狀或粉末狀,若是後者,又稱為X射線粉末法。
晶體X射線衍射是X射線在晶體中發生的衍射現象。晶體具有點陣結構,點陣結構的周期(即晶胞邊長,b,c)與X射線 的波長屬於同一數量級,X射線衍射現象是一種基於波疊加原理的干涉現象,干涉的結果隨不同而有所不同(Δ為波程差;λ為...
3.2X射線多晶衍射儀83 3.2.1X射線多晶衍射儀的構成83 3.2.2X射線發生器83 3.2.3測角儀84 3.2.4X射線強度測量記錄系統90 3.2.5衍射儀控制及衍射數據採集分析系統93 3.2.6樣品台附屬檔案95 3.3多晶粉末衍射資料庫和軟體...
衍射光分析儀是一種用於物理學、測繪科學技術、材料科學領域的分析儀器,於2008年02月28日啟用。技術指標 德國布魯克bruker D4粉末X射線衍射儀,是專為電解鋁生產過程控制分子比提供分析數據,它可以大大減少樣品的循環次數。採用銅鈀光管...
X射線衍射成像系統 X射線衍射成像系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2003年12月11日啟用。技術指標 測試角度從4-100,解析度比一般衍射儀高一倍。主要功能 對粉末材料進行X射線衍射分析。
X射線法X-ray method:X射線是一種波長很短(一般為0.001~10nm)、具有高能量高穿透能力的射線。在礦物學中人們普遍用其分析研究品體的內部結構,但這時所使用的樣品為粉未狀,即所謂的“X射線粉末街射法”,故此法顯然不適用於...
從X射線波長尚可確定試樣的組成元素。電子探針就是按照這一原理設計的。另見 晶格 衍射 分散式布拉格反射器 光纖布拉格光柵 亨德森極限 衍射的動力學理論 勞厄方程 粉末衍射 結構因子 威廉·勞倫斯·布拉格 X射線晶體學 ...
不同於一般search/match(尋峰尋譜)的軟體,如EVA,Jade, X‘pert HighScore,Search Match等,TOPAS的主要目的是運用兩個世紀以來關於X射線粉末衍射的主要分析方法和研究成果,通過精修(refine)實驗條件參數、樣品參數、X射線源參數、儀器...