X射線散射研究

X射線散射研究是用來測定粉末相的晶體結構，收集極小晶體的衍射強度，可準確地鑑定粉末相的成因機制。

基本介紹

• 中文名：X射線散射研究
• 外文名：X-ray scatter analysis
• 作用：測定粉末相的晶體結構
• 學科：岩礦分析與鑑定

基本簡介

學科：岩礦分析與鑑定

詞目：X射線散射研究

英文：X-ray scatter analysis

釋文

X射線散射研究是用來測定粉末相的晶體結構，收集極小晶體的衍射強度，可準確地鑑定粉末相的成因機制。例如，晶體和礦物顆粒表面衍射研究：根據附著物性質追索其原始物質；相轉變研究：玻璃的固—固相、液—固相相轉變機制研究，以確定玻璃的成因及礦物相轉變的動力學機制。