基本介紹
內容簡介
晶體結構是了解固體材料性質的重要基礎，X射線粉末衍射法是提供有關晶體結構信息的主要方法之一。《粉末衍射法測定晶體結構（第2版）（套裝上下冊）》由梁敬魁編著，《粉末衍射法測定晶體結構（第2版）（套裝上下冊）》除了扼要介紹X射線衍射的晶體學基礎、化合物結構的晶體化學基本概念、X射線粉末衍射的實驗方法，以及衍射線的位置和峰形及強度的測定外，還比較系統全面地論述了粉末衍射圖譜的指標化、點陣常數的精確測量、粉末衍射測定新型化合物晶體結構的各種方法及里特沃爾德（Rietveld）法全譜擬合修正晶體結構、固溶體類型與超結構的測定，以及鍵價理論在離子晶體結構分析中的套用。重點闡述粉末衍射結構分析從頭計算方法。
《粉末衍射法測定晶體結構（第2版）（套裝上下冊）》可供從事x射線晶體學和材料科學的科技工作者，以及高等院校有關專業的師生參考。
