多晶衍射法

多晶衍射法 diffraction method for polycrystalline

利用晶體對X射線的衍射效應，獲得多晶樣品的X射線衍射圖的方法。該法給出一套基本數據——d-I 值 (衍射面間距和衍射強度)。根據這些數據可進行物相分析、計算晶胞參數、確定空間點陣型式以及測定簡單金屬和化合物的晶體結構。樣品通常為塊狀或粉末狀，若是後者，又稱為X射線粉末法。