多晶粉末X射線衍射儀是一種用於核科學技術領域的分析儀器,於2015年12月10日啟用。
基本介紹
- 中文名:多晶粉末X射線衍射儀
- 產地:荷蘭
- 學科領域:核科學技術
- 啟用日期:2015年12月10日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
多晶粉末X射線衍射儀是一種用於核科學技術領域的分析儀器,於2015年12月10日啟用。
多晶粉末X射線衍射儀是一種用於核科學技術領域的分析儀器,於2015年12月10日啟用。技術指標 1.工作溫度:15-25 °C 2.工作濕度:40-80 % 3.UPS電源:30 kVA(220-240 V +/– 10 %, 50-60 Hz) 4.最大輸出功率:2....
X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀,英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為XPD或XRD。原理 x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X...
變溫全自動組合粉末多晶X-射線衍射儀是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2014年6月1日啟用。技術指標 該設備是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀,它採用了理學獨創的CBO交叉光學系統,一台儀器可以進行從普通粉末樣品到...
高功率X射線粉末衍射儀的主要用途: 多晶衍射(粉末衍射):定性分析、定量分析、晶粒大小、點陣參數、全譜結構最佳化擬合、巨觀殘餘應力。薄膜分析等。右衍射儀可獲得高強度的Kα1衍射譜,有利於分析低對稱晶系。數據處理具有先進的峰分離...
X射線衍射儀系統是一種用於化學、藥學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年12月15日啟用。技術指標 功率:3 kW 測角範圍(2θ):0.1 ~ 140°測角準確度Δ(2θc):0° 測角復現性(Sθd ):0....
X-衍射儀 X-衍射儀是一種用於物理學、地球科學領域的分析儀器,於2005年10月8日啟用。技術指標 sc探測器能量解析度E<55%;儀器角度解析度D<40% ;綜合穩定性<±1.5%。主要功能 單礦物及礦物結構測定。
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀,靶材及功率:Rh靶 4kW,可以對5B到92U進行快速定性、定量分析,元素的檢量範圍0.0001%~...
3.2.2X射線發生器83 3.2.3測角儀84 3.2.4X射線強度測量記錄系統90 3.2.5衍射儀控制及衍射數據採集分析系統93 3.2.6樣品台附屬檔案95 3.3多晶粉末衍射資料庫和軟體95 參考文獻96 第4章粉末X射線衍射圖的獲取98 4.1樣品準備...
高解析度粉末X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2009年11月30日啟用。技術指標 Cu靶,功率3kW,θ-θ測角儀,LynxEye陣列探測器。主要功能 可進行材料的物相鑑定和定量分析,並對材料的晶體結構、晶胞參數、晶粒大小等進行...
高分辨粉末X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年3月7日啟用。技術指標 X射線發生器和機櫃: 最大輸出功率: 4kW, 最大管壓: 60kV,1mV/步, 機櫃同步數字顯示, 最大管流: 100mA,1mA/步,機櫃同步數字顯示,...
X射線高分辨衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2007年1月15日啟用。技術指標 2Th準確度:最強峰位角度值與標準卡片值(35.153)之差0.01度;GM測試:最強峰值強度≥2.3E09cps,Si111樣品半高寬0.028度;四晶單色器測試:...
X射線衍射儀 基本構成 (1) 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。(2) 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體...
《粉末多晶X射線衍射技術原理及套用》是2011年鄭州大學出版社出版的圖書,作者是張海軍、賈全利、董林。內容介紹 《粉末多晶X射線衍射技術原理及套用》共分12章,側重於講述衍射技術的套用。第1章和第2章為晶體學和X射線衍射原理,第3...