X射線微區衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年9月18日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線微區衍射儀
- 產地:日本
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2018年9月18日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
X射線微區衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年9月18日啟用。
X射線微區衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年9月18日啟用。技術指標D/max Rapid Ⅱ-S。1主要功能廣泛套用於化學化工、生物科學,藥物分析、材料科學、物理學、環境科學,地球與地理科學等學科領域...
X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀,英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為XPD或XRD。原理 x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X...
衍射儀也稱X射線發生器、探測器X射線發生器,是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一,其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。進展 衍射儀的進展主要在三個方面:1、X射線發生器,2、探測器,3、衍射幾何與光路。x射線發生...
高分辨X射線衍射儀是一款帶有PC機控制隨機微處理器的X射線發生器。技術參數 帶有PC機控制隨機微處理器的超穩定X射線發生器 高亮玻璃和陶瓷X射線管,線上焦斑和點焦斑間快速更換 管罩的X-Y和可旋轉平台 bel鏡平行束光學器件 樣品空間...
面探X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2003年12月1日啟用。技術指標 2θ測量範圍:-10°-155°。微區最小測量範圍:直徑50μm。主要功能 廣泛套用於金屬及合金材料、半導體及超導材料、化學及塗層材料、人工晶體、聚合物...
高溫粉末X-射線衍射儀是一種用於化學、地球科學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年3月21日啟用。技術指標 功率:50×40 (KV×MA;)穩定性:±0.01%之內; ;2θ測角範圍:0.5°-146°;最小步長...
攜帶型X射線衍射儀是一種用於土木建築工程領域的物理性能測試儀器,於2018年11月28日啟用。技術指標 環境工作溫度:-20℃~35℃; 環境濕度:0~75%; 供電系統:100~240V,50/60 Hz; 記憶體容量:40GB; 激發源:低功率X射線陶瓷管...
X射線衍射儀系統是一種用於化學、藥學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年12月15日啟用。技術指標 功率:3 kW 測角範圍(2θ):0.1 ~ 140°測角準確度Δ(2θc):0° 測角復現性(Sθd ):0....
X射線雙微焦斑衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年11月1日啟用。技術指標 1. Eos CCD 檢測器 2. 微焦斑Mo光源(Mova)或/和 微焦斑Cu光源(Nova) 3. 四圓 kappa 測角儀。主要功能 1. 檢測器:採用級別最高、...
變溫X射線衍射儀是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2012年12月12日啟用。技術指標 X射線發生器和機櫃: 最大輸出功率:3kW 最大管壓: 60kV,1mV/步, 機櫃同步數字顯示 最大管壓: 60mA,1mA/步,機櫃同步數字顯示...
多功能粉末X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年3月7日啟用。技術指標 測角準確度:≤0.01°重複性:≤0.001° 一維探測器通道256,二維探測器通道385。主要功能 晶體物質物相,半定量,定量分析,晶粒大小,結晶度...
島津X射線衍射儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2014年03月31日啟用。技術指標 運轉(1000°/min),精度角度(±0.0001°);。主要功能 精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量...
X射線衍射光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2011年4月14日啟用。技術指標 初級準直器:3位以上程式控制, 適合重輕元素。 晶體選擇:≥5塊晶體, 必須含有2塊彎晶及人工多層膜晶體。 多道分析器:總道數≥500道 從光管陽極到...
全自動X射線衍射儀是一種用於物理學、化學、藥學、材料科學領域的分析儀器,於2010年2月8日啟用。技術指標 最大輸出3KW,電源穩定度±0.005%以內,廣角測角儀,重複性1°/10000最小步進1°/10000。主要功能 材料的物相定性與定量分析...
小角散射X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於1994年1月10日啟用。技術指標 轉靶12 kW;Cu靶 Ka1,波長0.15405 nm;角度解析度0.01°。主要功能 基於多晶粉末X射線衍射測定材料的晶體結構。
粉末X射線衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器,於2016年10月01日啟用。技術指標 (1)最大輸出功率:3kW (2)探測器:D/tex Ultra250超速一維陣列探測器 (3)自動進樣 (4)性價比高,設計人性化,24位高通量;。主要功能 (1...
《X射線衍射儀技術條件》是2010年7月機械工業出版社出版的圖書,作者是機械工業出版社。內容簡介 本標準代替JB/T9400—1999《x射線衍射儀技術條件》。本標準與JB/T9400--1999相比,主要變化如下:——增加了目次;——對表格進行了修改...
X射線薄膜衍射儀 X射線薄膜衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2004年12月16日啟用。技術指標 角度範圍2Theta -5o~160o,角度解析度0.001o;薄膜樣品台。主要功能 分析材料的物質組成以及能級結構。
高分辨高精度X射線粉末衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年5月12日啟用。技術指標 Ka1單色器,配毛細管旋轉樣品台; 高溫樣品台:室溫至1200oC; 解析度:0.001,最大電壓60kV,最大電流60mA,功率3000W; 衍射樣品台,...
X射線單晶衍射儀主要用於精確、快速地測定小分子無機物、有機物、配合物以及蛋白質大分子等的固體狀態的結構以及區分和確定晶體的手征性及空間結構,而且是目前已知的最有力的晶態物質結構的表征手段。正因為如此,它就為進一步研究這些...
高功率X射線粉末衍射儀的主要用途: 多晶衍射(粉末衍射):定性分析、定量分析、晶粒大小、點陣參數、全譜結構最佳化擬合、巨觀殘餘應力。薄膜分析等。右衍射儀可獲得高強度的Kα1衍射譜,有利於分析低對稱晶系。數據處理具有先進的峰分離...
X射線晶體衍射分析儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2011年8月31日啟用。技術指標 X射線晶體分析儀利用背射勞厄照相,底片安裝在晶體與射線源之間,而入射光束則在底片上的小孔通過,所記錄的為向後方向上的衍射光束,用衍射...
桌面型X射線衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器,於2018年9月25日啟用。技術指標 功率:300W;角度掃描範圍:-3~160°;光管:西門子陶瓷X光管,Cu靶;測角儀:Theta/theta掃描;探測器:LynxEyeSSD一維陣列探測器。主要功能 測試固體...
低角度X射線衍射儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2016年6月28日啟用。技術指標 本儀器的測試角度範圍為0.6°—10°。主要功能 進行物相分析、取向分析、晶粒大小和微觀應力的測定、巨觀應力的測定及點陣參數的精密測定等方面...
X射線衍射儀 基本構成 (1) 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。(2) 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體...
帶元素分析的X射線衍射儀是一種用於地球科學、材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器,於2018年12月27日啟用。技術指標 X射線光管:Rh靶;陶瓷端窗X光管;Be窗厚度≤50µm;樣品激發距離≤16mm 連續掃描速度:0-550°/...
X射線雙微焦斑單晶衍射儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2015年3月18日啟用。技術指標 X射線發生器最大輸出功率:50W 解析度:Cu靶:0.837;Mo靶:0.80 X射線管保護:過電壓、過電流、冷卻水異常保護。主要...
《X射線衍射儀研製與開發》是由南京地質礦產研究所擔任第一完成單位,由修連存、金星、黃俊傑、雷新榮、俞正奎、卜庭江、黃賓、王典洪、阮宏宏、王春波、王彌建、修鐵軍、張秋寧、于吉順、湯中道擔任主要完成人的科研項目。成果信息 成果...
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體,如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發生衍射,由對衍射線的分析...
CCD單晶X射線衍射儀是一種用於化學、藥學、材料科學、食品科學技術領域的分析儀器,於2009年1月12日啟用。技術指標 高功率(5.4KW)固定靶X射線發生器(鉬靶),檢測器為Saturn724+CCD面探測器。主要功能 無機、有機、金屬有機化合物...