X射線薄膜衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2004年12月16日啟用。
基本介紹
- 中文名：X射線薄膜衍射儀
- 產地：德國
- 學科領域：化學
- 啟用日期：2004年12月16日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,
技術指標
角度範圍2Theta -5o~160o，角度解析度0.001o；薄膜樣品台。
主要功能
分析材料的物質組成以及能級結構。
X射線薄膜衍射儀
相關詞條
- X射線薄膜衍射儀
X射線薄膜衍射儀 X射線薄膜衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2004年12月16日啟用。技術指標 角度範圍2Theta -5o~160o，角度解析度0.001o；薄膜樣品台。主要功能 分析材料的物質組成以及能級結構。
- 高分辨X射線衍射儀
高分辨X射線衍射儀是一款帶有PC機控制隨機微處理器的X射線發生器。技術參數 帶有PC機控制隨機微處理器的超穩定X射線發生器 高亮玻璃和陶瓷X射線管，線上焦斑和點焦斑間快速更換 管罩的X-Y和可旋轉平台 bel鏡平行束光學器件 樣品空間...
- 寬溫區多功能X射線衍射儀
寬溫區多功能X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年12月7日啟用。技術指標 9KW 轉靶X射線發生器、θ-θ廣角測角儀、狹縫系統、標準樣品台- Z軸:-10 to 1mm、變溫範圍溫度4-300K。主要功能 粉末與薄膜...
- 高功率X射線衍射儀
高功率X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2018年12月21日啟用。技術指標 旋轉陽極Cu靶，最大輸出功率6kW，能量色散陣列探測器（能量解析度優於380eV），高精度五軸尤拉環樣品台。主要功能 常規XRD掃描，薄膜掠入射等。
- X射線衍射系統
最大管電壓：≥60KV；最大管電流≥60mA； X射線燈管：最大電壓：≥60KV；最大電流≥60mA 測角儀：掃描半徑：≥600mm 最小步進角：+-0.0001° 掃描速度：0.1s-10s/step。主要功能 可對薄膜、粉末物象和薄膜厚度進行分析。
- 高溫原位X射線衍射儀
高溫原位X射線衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器，於2018年03月23日啟用。技術指標 1.樣品形狀：塊體、粉末、薄膜、液體；2.變溫範圍：室溫-2000℃（空氣，惰性氣氛，還原性氣氛），升溫速率：0.1-60℃；3.2θ範圍：-10 – ...
- 廣角X射線衍射儀
廣角X射線衍射儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器。技術指標 1.1 適用溫度：-40℃～＋50℃，適用濕度：小於等於90％。1.2 適於電源220V（10％）/50Hz。2. 設備用途： 可對進行物相檢索分析、物相定量及無標定量分析...
- 低溫X射線衍射儀
低溫X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2014年9月1日啟用。技術指標 測角儀最小步長：0.0001度，測量溫度：100K到600K。主要功能 能夠精確測量低溫下多晶，單晶材料和薄膜材料的晶格結構和原子占位，薄膜厚度及...
- 高功率X射線粉末衍射儀
高功率X射線粉末衍射儀的主要用途： 多晶衍射（粉末衍射）：定性分析、定量分析、晶粒大小、點陣參數、全譜結構最佳化擬合、巨觀殘餘應力。薄膜分析等。右衍射儀可獲得高強度的Kα1衍射譜，有利於分析低對稱晶系。數據處理具有先進的峰分離...
- 變溫X射線衍射儀
變溫X射線衍射儀是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2012年12月12日啟用。技術指標 X射線發生器和機櫃： 最大輸出功率：3kW 最大管壓： 60kV，1mV/步, 機櫃同步數字顯示 最大管壓： 60mA，1mA/步,機櫃同步數字顯示...
