廣角X射線衍射儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器。
基本介紹
- 中文名:廣角X射線衍射儀
- 產地:日本
- 學科領域:工程與技術科學基礎學科
- 啟用日期:2017年1月1日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器
廣角X射線衍射儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器。
廣角X射線衍射儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器。技術指標1.1 適用溫度:-40℃~+50℃,適用濕度:小於等於90%。1.2 適於電源220V(10%)/50Hz。2. 設備用途: 可對進行物相檢索分析...
X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析。廣泛套用於冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。基本構造 X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本...
衍射儀也稱X射線發生器、探測器X射線發生器,是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一,其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。進展 衍射儀的進展主要在三個方面:1、X射線發生器,2、探測器,3、衍射幾何與光路。x射線發生...
X射線衍射光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2011年4月14日啟用。技術指標 初級準直器:3位以上程式控制, 適合重輕元素。 晶體選擇:≥5塊晶體, 必須含有2塊彎晶及人工多層膜晶體。 多道分析器:總道數≥500道 從光管陽極到...
X射線光譜衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2014年08月01日啟用。技術指標 X射線是一種波長(0.06-20nm)很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質,並能使螢光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。主要功能 廣...
X射線衍射儀 基本構成 (1) 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。(2) 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體...
在X射線分析法中,用於測量入射X射線束與衍射X射線束之間夾角的儀器,衍射儀能自動描繪出衍射強度隨2θ角的變化情況。一、概述 測角儀與德拜相機有許多相似之處。平板試樣安裝在試樣台上,後者可圍繞垂直於圖4中的軸O旋轉。S為X射線...
X射線晶體衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2006年3月8日啟用。技術指標 功率:3kW; 測角儀重現性:0.0001度;設備尺寸:1975×1132×1371mm(H×D×W)。主要功能 材料結構相關多方面的分析和多晶樣品的物相分析、晶粒尺寸...
X射線晶體衍射分析儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2011年8月31日啟用。技術指標 X射線晶體分析儀利用背射勞厄照相,底片安裝在晶體與射線源之間,而入射光束則在底片上的小孔通過,所記錄的為向後方向上的衍射光束,用衍射...
於2012年8月23日啟用。技術指標 垂直式測角儀,可變狹縫。主要功能 外型小巧方便,具有近於高端分析儀器的測試性能,廣泛套用於各種金屬及晶體材料的物質結構組成分析,是一種適用於科研實驗的X射線衍射儀。
《X射線衍射儀技術條件》是2010年7月機械工業出版社出版的圖書,作者是機械工業出版社。內容簡介 本標準代替JB/T9400—1999《x射線衍射儀技術條件》。本標準與JB/T9400--1999相比,主要變化如下:——增加了目次;——對表格進行了修改...
島津X射線衍射儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2014年03月31日啟用。技術指標 運轉(1000°/min),精度角度(±0.0001°);。主要功能 精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量...
高分辨X射線衍射儀是一款帶有PC機控制隨機微處理器的X射線發生器。技術參數 帶有PC機控制隨機微處理器的超穩定X射線發生器 高亮玻璃和陶瓷X射線管,線上焦斑和點焦斑間快速更換 管罩的X-Y和可旋轉平台 bel鏡平行束光學器件 樣品空間...
15-X射線衍射儀 15-X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月29日啟用。技術指標 X射線發生器最大輸出功率 3KW,最大管壓60kV,最大管流60mA,5軸樣品台。主要功能 薄膜電子材料的定性分析、取向分析。
X射線單晶衍射儀主要用於精確、快速地測定小分子無機物、有機物、配合物以及蛋白質大分子等的固體狀態的結構以及區分和確定晶體的手征性及空間結構,而且是目前已知的最有力的晶態物質結構的表征手段。正因為如此,它就為進一步研究這些...
小角廣角X射線散射系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月20日啟用。技術指標 光源:8KeV Cu Kalpha; 面探測器:Pilatus3R 200K-A 探測器到樣品的長度範圍: 100mm—2500mm q測試範圍:0.025 nm-1 ≤ q≤ 40 ...
帶元素分析的X射線衍射儀是一種用於地球科學、材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器,於2018年12月27日啟用。技術指標 X射線光管:Rh靶;陶瓷端窗X光管;Be窗厚度≤50µm;樣品激發距離≤16mm 連續掃描速度:0-550°/...
X射線衍射應力分析儀是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學、安全科學技術領域的分析儀器,於2012年5月28日啟用。技術指標 所有板材任何表面部位的管徑大於800mm的內壁,管徑大於25cm且離管口小於10cm內壁任點。主要功能 測量材料中...
Empyrean 銳影X射線衍射系統,可用於粉末物相測定,薄膜物相測定,薄膜chi、phi掃描、薄膜應力測試以及搖擺曲線等高分辨精確測量等。其X光管全部採用金屬陶瓷材料製造,壽命長,陽極靶材與燈絲經過三維高精度定位;本儀器具有唯一的全能矩陣探測...
桌面型X射線衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器,於2018年9月25日啟用。技術指標 功率:300W;角度掃描範圍:-3~160°;光管:西門子陶瓷X光管,Cu靶;測角儀:Theta/theta掃描;探測器:LynxEyeSSD一維陣列探測器。主要功能 測試固體...
X射線高分辨衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2007年1月15日啟用。技術指標 2Th準確度:最強峰位角度值與標準卡片值(35.153)之差0.01度;GM測試:最強峰值強度≥2.3E09cps,Si111樣品半高寬0.028度;四晶單色器測試:...
閃爍計數器, 線性範圍:0-2*106CPS,資料庫含11.7萬張標準圖譜。主要功能 樣品通常為小塊金屬或粉末,又稱粉末X射線衍射儀。利用多晶樣品對X射線的衍射效應,記錄和分析X射線衍射圖譜,可以對樣品進行物相定性和定量分析。
組合式多功能X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2011年11月19日啟用。技術指標 1. X射線發生器功率為3 KW 2. 測角儀為水平測角儀 3. 測角儀最小步進為1/10000度 4. 測角儀配程式式可變狹縫 5. 高反射效率的...