X射線衍射光譜儀

X射線衍射光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2011年4月14日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線衍射光譜儀
• 產地：荷蘭
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2011年4月14日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

初級準直器：3位以上程式控制, 適合重輕元素。 晶體選擇：≥5塊晶體, 必須含有2塊彎晶及人工多層膜晶體。 多道分析器：總道數≥500道 從光管陽極到樣品的距離≤16mm，以充分利用光管的X射線發射強度，保證測量靈敏度。 位置面罩轉換器，適合做不同尺寸的樣品，電腦控制自動轉換。 充氦液體測量系統（包括不鏽鋼液體分析用樣品杯，液體樣品塑膠杯，麥拉膜等） 探測器系統 探測器類型：流氣式探測器+閃爍式探測器+附加探測器。 最大計數率：流氣式: 3000kcps，閃爍式: 1500kcps，附加探測器4500kcps。 非線性度：最大計數率範圍內偏差不大於1% 脈衝收縮修正：自動動態調整(可選擇開/關) 死時間修正：電腦自動處理 測角儀 形式：/2獨立轉動, 帶光學編碼器，無機械磨損帶來的誤差。 掃描速度：可選擇從0.001 - 2 2/秒 重複性：0.0001 /2 溫度穩定性：在環境溫度10-40C時保持0.05 C。

主要功能

樣品的晶體結構、物相分析。