波長色散X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2007年4月3日啟用。
波長色散X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2007年4月3日啟用。技術指標 超銳端窗Rh靶X光管，最大功率可達4kW（60kV，125mA）的高壓發生器；晶體 8塊，覆蓋了程式中必須使用的所有波長；測角儀: 2θ角準確度0.0025...
波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器，於2006年06月09日啟用。技術指標 RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件， Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在...
波長色散式X射線螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2012年10月23日啟用。技術指標 布拉格角範圍：13到98度28波 分析晶體：氟化鋰200，可選其他晶體 元素範圍：Kα 22-48（鈦到銀） 元素範圍：Lα 56-...
波長色散型X螢光光譜儀是一種用於化學工程、材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器，於2012年10月1日啟用。技術指標 可以對4Be到92U進行定性、定量分析；可以分析材料的狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品；採用新光學...
（c）容易受元素相互干擾和疊加峰影響。分類 X螢光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。以X螢光的波粒二象性中波長特徵為原理的稱為波長色散型，以能量特徵為原理的稱為能量色散型。
波長色散X射線螢光分析儀，岩礦分析與鑑定術語。樣品被入射X射線激發產生的螢光X射線，經分光器色散後，由測角儀（θ）聯動裝置上的探測器（2θ），在不同方向（角度-2θ）上，對X射線螢光光譜進行譜線波長和強度測量，最終給出待測...
根據色散方式不同，X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀（波長色散）和X射線螢光能譜儀（能量色散）。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀...
全自動X射線螢光光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於2014年04月30日啟用。技術指標 1 類型：順序掃描波長色散型X射線螢光光譜儀； 2 元素分析範圍：氧(8)—鈾(92)； 3 濃度範圍從ppm到主含量； 4 長期動態綜合穩定性：≤0...
x 射線螢光光譜儀和X 射線螢光分析技術及其計算機軟體的不斷開發，X 射線螢光光譜儀現已由單一的波長色散 X 射線螢光光譜儀發展成擁有波長色散、能量色散、電子探針、全反射、同步輻射和質子 X 射線光譜儀等一大家族。
一、波長色散與能量色散能力 二、探測器解析度比較 三、探測器的選用 參考文獻 第五章 X螢光光譜儀 第一節 波長色散X射線螢光光譜儀 一、X射線光管、探測器與光譜儀結構 二、分光晶體及解析度 三、脈衝放大器和脈高分析器 第二節...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒；角度準確度優於±0.001°，角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測，具有...
70年代以後，又按激發、色散和探測方法的不同，發展成為X射線光譜法（波長色散）和X射線能譜法（能量色散）兩大分支，兩者的套用現已遍及各產業和科研部門。儀器 X射線螢光分析儀（見彩圖）主要由激發、色散（波長和能量色散）、探測、...
根據產生的螢光X射線的強度，就能定量地求出各元素含量，就是是螢光X射線定量分析的基礎。X射線螢光光譜儀，根據分光原理，可以分為波長色散型和能量色散型兩種基本類型。波長色散型X射線螢光光譜儀由X光管激發源、試樣室、晶體分光器、...
分析晶體是波長色散X射線螢光光譜儀所用的色散兀件。其作用與光譜儀器中的稜鏡和光柵相同。簡介 它可將_次X射線束散成空間波潛，其色散關係遵從布喇格方程。種類 常用的分析晶體有氟化銼、磷酸二氫按、季戊四醇,rr-i石酸乙二胺、...
能量色散x射線螢光光譜儀energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脈衝高度分析器進行能量色散的x射線螢光光譜儀公與波長色散x射線螢光光譜儀相比，它的結構簡單。可使用小功率x射線管激發和簡單的分光系統。採用半導體探測器...
波長色散x射線螢光光譜法wavelength-}isl3ersi}c Y-rayIluoreacenc} sperrrnmeuy X射線照射試樣激發產生各種波長的光，通過晶體衍射進行空間色散，分別測量不同波長的x射線分析線峰值強度，進行定性和定量分析的方法。適用於原子序數4(...
波長色散譜儀 波長色散譜儀是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器，於2010年01月14日啟用。技術指標 檢測限度為0.05%。主要功能 元素定性、定量分析。
此外，本書還對提出的半定量分析、薄膜和鍍層分析、不確定度評定、化學計量學研究在X射線光光譜分析中的套用及普通波長色散X射線螢光光譜儀在化學態分析中的套用領域作了專門論述。目錄 第一篇 X射線螢光光譜基本原理 第一章 X射線物理...
波長色散X射線譜（wavelength dispersion X-ray spectroscopy）是2019年公布的冶金學名詞，出自《冶金學名詞》第二版。定義 用X光光譜儀進行微區化學成分分析的方法。從譜峰波長可確定試樣所含元素，從譜峰強度可計算元素的含量。出處 《...
能量型X射線螢光光譜儀 能量型X射線螢光光譜儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2015年7月31日啟用。技術指標 分析範圍：Na11-U92，檢測範圍：0.001-100%。主要功能 元素成分分析。
能量色散型X射線螢光儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2016年12月22日啟用。技術指標 重複性：0.001% 能量解析度：135eV 分析含量範圍：ppm-100% 元素分析範圍：Na-U(標準XFlash探測器)； C...
《波長色散型螢光X射線分析裝置》是株式會社理學於2017年8月31日申請的專利，該專利公布號為CN109791116B，專利公布日為2021年6月18日，發明人是加藤秀一、山田隆、片岡由行。專利摘要 一種波長色散型螢光X射線分析裝置，包括單一的...
波長色散X射線譜法 波長色散X射線譜法是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 用X射線光譜儀進行微區化學成分分析的方法。從譜峰波長可確定試樣所含元素，從譜峰強度可計算元素的含量。出處 《材料科學技術名詞》。
一、波長色散與能量色散能力 二、探測器解析度比較 三、探測器的選用 參考文獻 第五章 X射線螢光光譜儀 第一節 波長色散X射線螢光光譜儀 一、X射線光管、探測器與光譜儀結構 二、分光晶體及解析度 三、脈衝放大器和脈高分析器 第二...
1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Birks）製成第一台波長色散X射線螢光分析儀，至60年代本法在分析領域的地位得以確立。套用 現代X射線螢光光譜分析儀由以下幾部分組成：X射線發生器（X射線管、高壓電源及穩定...
分析原理 ROHS檢測儀就是X射線螢光光譜儀，其分析原理也就是X射線螢光光譜儀的分析原理。X射線螢光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線螢光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線螢光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光...
在樣品化學特徵（成分與分配等）研究方面，除常規的重量法、容量法、比色法所用設備外，常用實驗室精密儀器有各種原子吸收光譜儀、原子螢光光譜儀等。這類儀器能測定60～70種微、痕量元素，檢出限可達到ppb級。波長色散X射線螢光光譜儀...
北京安科慧生科技有限公司成立於2012年，公司以自主研發、生產、銷售科學儀器為己任，公司主要產品為單波長色散X射線螢光光譜儀、雙向曲面晶體DCC（Doubly curved crystal optics）等。北京安科慧生科技有限公司是以自主研發、生產、銷售科學儀器...
在樣品化學特徵（成分與分配等）研究方面，除常規的重量法、容量法、比色法所用設備外，常用實驗室精密儀器有各種原子吸收光譜儀、原子螢光光譜儀等。這類儀器能測定60～70種微、痕量元素，檢出限可達到ppb級。波長色散X射線螢光光譜儀...
