波長色散型X-螢光光譜儀

波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器，於2006年06月09日啟用。

基本介紹

• 中文名：波長色散型X-螢光光譜儀
• 產地：日本
• 學科領域：地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術
• 啟用日期：2006年06月09日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀

技術指標

RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件， Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在PET晶體下為452 Kcps N-Kα為12.2Kcps; C-Kα為543Kcps; Al-Kα在PX-25晶體下為892 Kcps。

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主要功能

X-射線螢光光譜儀被廣泛的套用於岩石，礦物及地球化學勘察樣品中40餘種常，次，微量元素的測定，測定範圍為0.000X%～100%,可用於無損檢測。