《X射線螢光光譜分析（第二版）》是2015年5月化學工業出版社出版的圖書，作者是羅立強、詹秀春、李國會。
基本介紹
- 書名：X射線螢光光譜分析（第二版）
- 作者：羅立強、詹秀春、李國會
- ISBN：9787122228611
- 頁數：270頁
- 定價：68元
- 出版社：化學工業出版社
- 出版時間：2015年5月
- 裝幀：精裝
- 開本：16開
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《X射線螢光光譜分析（第二版）》系統闡述了X射線螢光光譜分析（XRFS）基本原理，介紹了XRFS光譜儀及主要組成部件，特別是X射線激發源和X射線探測器的工作原理，強調了新型X射線激發源和探測器如聚焦毛細管X射線透鏡、矽漂移探測器和超導探測器等的研究進展和特徵性能。對開展XRFS分析所需的定性與定量分析方法、元素間基體校正、化學計量學計算等做了較詳細的描述，評介了各方法的特點、局限及選用原則。在XRFS分析中，樣品製備技術具有特殊的重要性，因此單獨成章，以使讀者對其有深刻認識並能靈活運用。在儀器與維護方面，分析了不同儀器的特性，提供了一定的具有共性的儀器校正方法、日常維護知識和故障判斷原則。近年來，微區XRFS技術發展迅速，因此《X射線螢光光譜分析（第二版）》也分別介紹了同步輻射X射線螢光與光譜分析技術與套用、微區X射線螢光光譜分析與套用。同時還篇幅綜述了XRFS在地質、冶金、材料、考古、生物與環境等領域的研究進展與實際套用。希望可為廣大讀者提供可以借鑑和參考的信息。
《X射線螢光光譜分析（第二版）》可供X射線螢光光譜分析工作者學習參考，同時也可作為高等學校分析化學、分析儀器及相關專業師生的參考書。
圖書目錄
第一章 緒論
第一節 X射線螢光光譜的產生及其特點
第二節 X射線螢光分析技術的新套用
一、在生物、生命及環境領域中的套用
二、在材料及毒性物品監測中的套用
第三節 X射線螢光光譜儀研製進展
參考文獻
第二章 基本原理
第一節 特徵X射線的產生與特性
一、特徵X射線
二、特徵譜線系
三、譜線相對強度
四、螢光產額
第二節 X射線吸收
一、X射線衰減
二、吸收邊
三、吸收躍變
四、質量衰減係數的計算
第三節 X射線散射
一、相干散射
二、非相干散射
第四節 X射線螢光光譜分析原理
第五節 X射線衍射分析
參考文獻
第三章 激發源
第一節 常規X射線光管
一、光管結構與工作原理
二、連續X射線譜
三、特徵X射線譜
四、光管特性
第二節 液體金屬陽極X射線光管
第三節 冷X射線光管
第四節 單色與選擇激發
一、濾光片
二、二次靶
第五節 同位素源
第六節 同步輻射光源與粒子激發
第七節 聚束毛細管X射線透鏡
第八節 X射線雷射光源
參考文獻
第四章 探測器
第一節 波長色散探測器
一、流氣式氣體正比計數器
二、NaI閃爍計數器
三、波長色散探測器的逃逸峰
第二節 能量探測器
一、能量探測原理
二、能量探測器組成與特性
三、能量探測器的逃逸峰
第三節 新型能量探測器
一、Ge探測器
二、SiPIN探測器
三、Si漂移探測器
四、電耦合陣列探測器
五、超導躍變微熱量感應器
六、超導隧道結探測器
七、CdZnTe探測器
八、鑽石探測器
九、無定形矽探測器
第四節 各種探測器性能比較
一、波長色散與能量色散能力
二、探測器解析度比較
三、探測器的選用
參考文獻
第五章 X射線螢光光譜儀
第一節 波長色散X射線螢光光譜儀
一、X射線光管、探測器與光譜儀結構
二、分光晶體及解析度
三、脈衝放大器和脈高分析器
第二節 能量色散X射線螢光光譜儀
第三節 同位素源激發X射線螢光光譜儀
第四節 偏振激發X射線螢光光譜儀
第五節 全反射X射線螢光光譜儀
第六節 聚束毛細管透鏡微束XRF光譜儀
參考文獻
第六章 定性與定量分析方法
第一節 定性分析
第二節 定量分析
一、獲取譜峰淨強度
二、干擾校正
三、濃度計算
第三節 數學校正法
第四節 實驗校正方法
一、標準化
二、內標法
三、標準添加法
四、散射線內標法
第五節 實驗校正實例——散射線校正方法
一、散射效應與利用
二、濾光片對Compton峰和分析譜線的影響
三、準直器直徑對譜線的影響
四、Compton峰位隨濾光片材料的原子序數增加而產生漂移
參考文獻
第七章 基體校正
第一節 基本參數法
一、理論螢光強度
二、相關基本參數計算
三、基本參數法
第二節 理論校正係數
一、基本影響係數
二、理論校正係數
三、係數變換
參考文獻
第八章 分析誤差和統計不確定
第一節 分析誤差和分布函式
一、分析誤差
二、分布函式
第二節 計數統計學
第三節 靈敏度、檢出限及XRF中的誤差來源
一、靈敏度和檢出限
二、XRF中的誤差來源
第四節 不確定度及不確定度計算
一、測量不確定度
二、統計不確定度
三、誤差傳遞與不確定度
四、不確定度計算式
五、平均值的不確定度計算
六、統計波動
參考文獻
第九章 XRF中的化學計量學方法和套用
第一節 曲線擬合與遺傳算法
一、遺傳算法
二、遺傳算法在XRF中的套用
三、不同擬合方法的比較
第二節 基體校正與神經網路
一、神經網路的發展與學習規則
二、神經網路模型——誤差反傳學習算法
三、神經網路及相關化學計量學方法在XRF中的套用
第三節 模式識別
一、模式識別方法與特性
二、支持向量機
三、模式識別方法在XRF中的套用
參考文獻
第十章 樣品製備
第一節 制樣技術分類
第二節 分析制樣中的一般問題
一、樣品的表面狀態
二、不均勻性效應
三、樣品粒度與制樣壓力
四、X射線分析深度與樣品厚度
五、樣品的光化學分解
六、其他問題
七、試樣裝入
八、污染控制
九、測定時須小心的樣品
第三節 金屬樣品的製備
一、取樣
二、金屬樣品的製備方法
第四節 粉末樣品的製備
一、粉末壓片法
二、玻璃熔片法
三、鬆散粉末法
第五節 液體樣品
一、液體法
二、點滴法
三、富集法
四、固化法
第六節 其他類型樣品的製備
一、塑膠樣品的製備方法
二、放射性樣品
第七節 微少量、微小樣品的製備
第八節 低原子序數元素分析的特殊問題
第九節 樣品製備實例
一、全岩分析
二、石灰、白雲石石灰和鐵石灰
三、石灰石、白雲石和菱鎂礦
四、天然石膏及石膏副產品
五、玻璃砂
六、水泥
七、氧化鋁
八、電解液
九、煤衍生物——瀝青
十、樹葉和植物
參考文獻
第十一章 X射線螢光光譜儀的特性與參數選擇
第一節 波長色散型X射線螢光光譜儀的特性與技術進展
第二節 X射線高壓發生器
第三節 X射線光管特性與選擇使用
第四節 濾光片、光闌和準直器
第五節 晶體適用範圍及其選擇
第六節 2θ聯動裝置
第七節 測角儀
第八節 探測器特性與使用
一、閃爍計數器
二、氣體正比計數器
三、探測器的選擇標準
第九節 脈衝高度分析器
第十節 實驗參數的選擇
一、儀器參數的選擇
二、光學參數的選擇
三、探測器與測量參數的選擇
第十一節 能量色散XRF光譜儀的特性和注意事項
第十二節 全反射X射線螢光光譜儀特性與設計要點
參考文獻
第十二章 儀器檢定、校正與維修
第一節 儀器檢定
一、實驗室條件
二、檢驗項目及測量方法
三、技術指標
第二節 脈衝高度分析器的調整及儀器漂移的標正
一、脈衝高度分析器的調整
二、儀器漂移的校正
第三節 日常維護
一、真空泵油位檢查
二、P10氣體的更換
三、高壓漏氣檢測
四、密閉冷卻水循環系統的檢測
五、檢查初級水過濾器
六、X射線光管的老化
七、日常檢查項目
第四節 常見故障及維護
一、機械問題
二、X射線高壓發生器
三、真空度不好
四、探測器的故障
五、樣品室灰塵的清掃
第五節 儀器選型常用標準與判據
一、硬體
二、軟體
參考文獻
第十三章 同步輻射X射線螢光光譜分析技術與套用
第一節 同步輻射技術的特點與發展
一、同步輻射的特點
二、同步輻射裝置的現狀和發展
第二節 同步輻射原理
一、同步輻射裝置
二、同步輻射基本線站及套用
第三節 同步輻射X射線螢光分析技術
一、SRXRF技術的優勢
二、SRXRF實驗裝置
三、SRXRF套用
第四節 同步輻射X射線吸收精細結構譜與套用
一、XAFS原理
二、XAFS譜測定方法
三、XAFS實驗方法
四、XANES原理及套用
五、EXAFS
參考文獻
第十四章 微區X射線螢光光譜分析與套用
第一節 發展歷程與研究現狀
第二節 實驗裝置
第三節 研究套用
一、顆粒物分析
二、生物樣品分析
三、地質樣品分析
四、考古樣品分析
五、司法鑑定和指紋樣品分析
六、三維信息獲取
參考文獻
第十五章 X射線螢光光譜在地質冶金樣品分析中的套用
第一節 冶金樣品分析
一、合金樣品
二、塗層分析
三、礦石原料
四、爐渣分析
五、添加劑
第二節 文物樣品分析
一、古陶瓷分析
二、繪畫顏料
三、古玻璃製品
四、古金屬製品
第三節 地質樣品分析
一、地質樣品分析
二、現場分析
參考文獻
第十六章 X射線螢光光譜在生物和環境樣品分析中的套用
第一節 生物樣品分析
一、植物樣品分析
二、動物樣品分析
三、人體樣品分析
四、細胞分析
五、金屬蛋白質分析
第二節 環境樣品分析
一、工業廢棄物
二、礦山污染物
三、城市污染物
第三節 大氣顆粒物分析
一、來源與危害
二、成分分析
三、元素形態分析
第四節 活體分析
一、活體分析裝置
二、骨鉛與骨鍶分析
三、腎活體分析
參考文獻
