全自動X射線螢光光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於2014年04月30日啟用。
全自動X射線螢光光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於2014年04月30日啟用。技術指標1 類型：順序掃描波長色散型X射線螢光光譜儀； 2 元素分析範圍：氧(8)—鈾(92)； 3 濃度範圍從ppm到主含量； 4 長...
X射線螢光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古...
螢光光譜儀簡介 結構 由光源、激發光源、發射光源、試樣池、檢測器、顯示裝置等組成。分類 螢光光譜儀可分為X射線螢光光譜儀和分子螢光光譜儀。原理 主要用途 1.螢光激發光譜和螢光發射光譜 2.同步螢光（波長和能量）掃描光譜 3.3D（Ex Em Intensity）4.Time Base和CWA（固定波長單點測量）5.螢光壽命測量，包括...
X螢光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X螢光（二次X射線），探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來...
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年5月5日啟用。技術指標 Ｘ射線管靶： 銠靶（Rｈ） Ｘ射線管壓： 60ＫＶ（Ｍａｘ） Ｘ射線管壓： 150ｍA（Mａｘ）檢測元素範圍：19F～92U 檢測濃度範圍：10-6～100% 最小分析微區：直徑250μｍ。主要功能 電子...
同時，X 射線螢光光譜儀也是野外現場分析和過程控制分析等方面首選儀器之一。產品特點 1、在測定微量成分時，由於X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特徵譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此螢光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地...
X射線式螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年11月1日啟用。技術指標 S8 Tiger分析元素範圍：O8—U92 S8 Tiger分析含量範圍：0.1ppm到100% 高壓發生器： S8 Tiger最大功率≥4kW；最大電壓≥60kV，20-60 kV 間 1 kV 連續可調； S8 Tiger最大電流≥170mA , 5-170 mA 間 1 mA 連續可調。
X射線螢光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線螢光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線螢光分析儀。產品介紹 不同元素髮出的特徵X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素髮出的，進行元素的定性分析。
X-螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2009年5月1日啟用。技術指標 檢測元素範圍：O～U (Be～N需另外配置分光晶體)；測量範圍ppm～100%;檢測器：流氣正比探測器和閃爍探測器；長期穩定性：0.04%。主要功能 利用X射線螢光分析原理對樣品中的元素進行定性、定量分析。可以對塊狀固體、...
高性能微區X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2018年10月26日啟用。技術指標 能滿足元素Na-U的成分分析；高分辨元素分布成像，像素達到25M pixels；Rh靶顯微X射線光管；多毛細管X射線光學，15±1um的光斑大小（Mo-K）；X射線管參數優於50kV，600μA；30mm2矽漂移探測器（SDD），能量解析度＜...
大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析範圍為Be到U。並且具有分析速度快、測量範圍寬、干擾小的特點。優缺點 優點：（a）分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 （b）X射線螢光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而...
台式X射線螢光光譜儀有比攜帶型光譜儀更高的解析度，通過在激發和探測技術上的革新，其對元素的定性和定量分析可以和大型落地式光譜儀相媲美，且其小巧的體積及簡單的安裝要求使其具有廣泛的套用前景。簡介 X射線螢光分析是確定物質中元素的種類和含量的一種方法，它利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的...
X射線螢光發射光譜儀 用於測量螢光X射線的X射線光譜儀。
定性分析 不同元素的螢光X射線具有各自的特定波長，因此根據螢光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對於一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線...
掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年4月1日啟用。技術指標 X射線管 4KW薄窗,Rh靶，管電流140mA;全自動計算機控制,2θ掃描速度連續掃描0.1°-300°/min，定位重現性±0.0001°；溫度調節35℃±0.1℃。主要功能 元素定性分析/薄膜的厚測定。
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2015年5月1日啟用。技術指標 懸浮顆粒物過濾器 符合 RoHS 及 WEEE 的分析 法醫及痕量分析 營養補充劑 磁性介質和半導體 土壤污染 過濾器上的薄膜 塑膠中的有毒元素。主要功能 出色的痕量分析靈敏度 高分析量的進程...
X射線光電譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年4月27日啟用。技術指標 主工作室：規定真空度（烘烤除氣後）≤5×10-10mbar，極限真空度（烘烤除氣後）1.54×10-10mbar；進樣室：規定真空度（烘烤除氣後）≤5×10-8mbar，極限真空度（烘烤除氣後）3.00×10-8mbar；探測器參數：有效測量半徑150mm...
X射線螢光分析儀是通過X射線管產生的X射線作為雷射源，激發樣品產生螢光X射線。根據螢光X射線的波長和強度來確定樣品的化學組成。簡介 該儀器通常能夠一次性檢測出多達25多種礦石及金屬元素，具體包括：Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Rb, Sr, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb, Ta, Hf, W, Pb, ...
1ms到160s 發射檢測器 光電倍增管，200－850nm 參比檢測器 為穩定性精選的光電二極體。主要功能 研究DNA、蛋白質和病毒的動態、剛性以及結構信息；監視空氣、水、土壤中痕量有機、無機、有毒、致變和致癌物質；進行藥物分析、膽固醇、蛋白質、維生素和DNA等的分析；利用螢光失蹤劑技術研究動態的生物學過程等。
X螢光化學分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年6月1日啟用。技術指標 1、X射線發生器：採用薄Be（鈹）窗的韌致輻射型﹑低功率﹑自然冷卻﹑高壽命的X光管，並根據實際套用需要選擇靶材。供選擇的靶材為：Rh（銠靶），Ag（銀靶），Mo（鉬靶），Ti（鈦靶）等。對輕元素Na、Mg、Al、Si、S等具有...
順序式X射線螢光光譜儀，成份分析儀器，主要用於各種岩礦和建材的分析。主要用途 分析元素範圍：F-U;分析含量範圍：微量（ppm）一常量（%）主要用於各種岩礦和建材的分析，如：矽酸鹽、矽鋁酸鹽、碳酸鹽、磷灰石、鋁土礦、水泥、陶瓷、土壤、煙塵粒的主元素及微量元素的分析。主元素（氧化物形式）：SiO2、TiO2、Al2...
日本理學X螢光光譜儀 日本理學X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2004年12月1日啟用。技術指標 ２θ角１５°193°,RSD小於0.5%。主要功能 金屬材料／陶瓷／玻璃／土壤／礦物中的元素定性可測元素B～U範圍內的所有元素。RSD＜1%，最大功率4KW，微區分析面積0.5mm～10mm。
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器，配0.23°,0.46°兩個準直器； 自動進樣器：60位X-Y二維全自動機器人進樣器； 高壓發生器： 穩定性：外電源波動±1%時，輸出波動為≤±0.0005%； X射線光管： 類型：端窗Rh靶陶瓷光管, Be窗...
主要使用X射線束激發螢光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，並作為過程控制的工具，廣泛套用於採掘和加工工業。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由於儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線螢光光譜儀，可以...
全自動單波長X螢光硫含量分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2011年11月23日啟用。技術指標 MWD XRF （單波長色散） X 螢光總硫分析 有效分析範圍：0.6 到 3000 ppm 及3000 ppm到5% 檢測時間： 30 秒到 5 分鐘，由用戶設定 沒有消耗件，無需載氣或高溫部件 超低維護量 模組化設計用於即插即用的...
Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在PET晶體下為452 Kcps N-Kα為12.2Kcps; C-Kα為543Kcps; Al-Kα在PX-25晶體下為892 Kcps。主要功能 X-射線螢光光譜儀被廣泛的套用於岩石，礦物及地球化學勘察樣品中40餘種常，次，微量元素的測定，測定範圍為0.000X%～100%,可用於無損檢測。
X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2017年5月26日啟用。技術指標 1、獨特的UCCOTM技術，更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀，業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和粉末、液體安全回收裝置，全方位防護樣品對光管的污染5、點分析和面成像技術，可以...
