X-射線螢光光譜儀

X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年5月5日啟用。

基本介紹

• 中文名：X-射線螢光光譜儀
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術
• 啟用日期：2013年5月5日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 圓二色光譜儀

技術指標

Ｘ射線管靶： 銠靶（Rｈ） Ｘ射線管壓： 60ＫＶ（Ｍａｘ） Ｘ射線管壓： 150ｍA（Mａｘ）檢測元素範圍：19F～92U 檢測濃度範圍：10-6～100% 最小分析微區：直徑250μｍ。

主要功能

電子、磁性材料領域用來研究半導體、磁光碟、磁性材料、電池、線路板、電容囂等； 化學工業領域中可用來研究無機、有機製品、化學纖維　催化劑、塗料、顏料、藥品　、化妝品、洗滌劑、橡膠、調色劑等成分 鋼鐵、有色金屬工業領域中可用來研究和測定各種合金成分； 陶瓷、水泥工業中可用來測定水泥、水泥原料、陶瓷、熟料、石灰石、粘土、玻璃、耐火材料、岩石等； 　　農業、食品工業中可用來檢測中土壤、肥料、植物、食品等。