X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2012年9月30日啟用。
X射線螢光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析...
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年5月5日啟用。技術指標 Ｘ射線管靶： 銠靶（Rｈ） Ｘ射線管壓： 60ＫＶ（Ｍａｘ） Ｘ射線管壓： 150ｍA（Mａｘ）檢測元素範圍：19F...
X射線螢光發射光譜儀 用於測量螢光X射線的X射線光譜儀。
能量型X射線螢光光譜儀 能量型X射線螢光光譜儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2015年7月31日啟用。技術指標 分析範圍：Na11-U92，檢測範圍：0.001-100%。主要功能 元素成分分析。
因此，X射線螢光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。為了滿足現代企業管理和生產要求，必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制，傳統的化學分析方法已經不能完全滿足生產過程的需要。
全自動順序掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器，於2006年4月15日啟用。技術指標 Cu Kα強度827Kcps Al Kα強度712Kcps RSD=0.024% PR=0.12% Sc=45.1% Pc=31.2%。主要功能 電子和磁性材料、化學工業...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒；角度準確度優於±0.001°，角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測，具有...
X-螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2009年5月1日啟用。技術指標 檢測元素範圍：O～U (Be～N需另外配置分光晶體)；測量範圍ppm～100%;檢測器：流氣正比探測器和閃爍探測器；長期穩定性：0.04%。主要...
X射線螢光光譜儀32SA X射線螢光光譜儀32SA是一種用於化學領域的分析儀器，於2011年7月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%；設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
X射線式螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年11月1日啟用。技術指標 S8 Tiger分析元素範圍：O8—U92 S8 Tiger分析含量範圍：0.1ppm到100% 高壓發生器： S8 Tiger最大功率≥4kW；最大電壓≥60kV，20-60 kV 間 1 ...
X射線螢光分析儀誕生以來，已發展到第三代。X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學...
螢光光譜儀簡介 結構 由光源、激發光源、發射光源、試樣池、檢測器、顯示裝置等組成。分類 螢光光譜儀可分為X射線螢光光譜儀和分子螢光光譜儀。原理 主要用途 1.螢光激發光譜和螢光發射光譜 2.同步螢光（波長和能量）掃描光譜 3.3D（Ex...
X射線螢光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2017年12月1日啟用。技術指標 X射線光管陽極材料：銠靶 最大功率：4kW 最大額定電壓：60kV 最大額定電流：160mA 樣品最大尺寸：直徑51.5mm，高40mm 分析腔體溫度：30±0.05℃...
波長色散型X射線螢光光譜儀由X光管激發源、試樣室、晶體分光器、探測器和計數系統幾個部分組成。而能量色散型X射線螢光光譜儀則用解析度較高的半導體探測器和多道脈衝分析器代替晶體分光器和一般探測器。X射線螢光分析廣泛套用於鋼鐵、...
根據色散方式不同，X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀（波長色散）和X射線螢光能譜儀（能量色散）。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀...
1次X射線濾光片 除去X射線光管的特徵X射線光譜， 在減低背景干擾方面發揮威力。 定點分析 100µm的Mapping解析度。可在CCD圖像 上指定點、區域、線。定點最小直徑500µm。 採用r-θ樣品台，避免1次X射線的照射面、以及分光晶體的...
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生螢光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器，於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW，穩定度±0.0005%，測角儀角度準確度≤±0.001°；角度重複性≤±0.0001°分光晶體：LiF(200)，PET，XS55，LiF(220)，Ge晶體，測試範圍...
能量色散X射線螢光光譜儀是使用小功率x射線管激發和簡單的分光系統的光譜儀。工作原理 能量色散x射線螢光光譜儀energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脈衝高度分析器進行能量色散的x射線螢光光譜儀公與波長色散x射線螢光...
台式X射線螢光光譜儀有比攜帶型光譜儀更高的解析度，通過在激發和探測技術上的革新，其對元素的定性和定量分析可以和大型落地式光譜儀相媲美，且其小巧的體積及簡單的安裝要求使其具有廣泛的套用前景。簡介 X射線螢光分析是確定物質中元素...
1 類型：順序掃描波長色散型X射線螢光光譜儀； 2 元素分析範圍：氧(8)—鈾(92)； 3 濃度範圍從ppm到主含量； 4 長期動態綜合穩定性：≤0.05%；。主要功能 用於固體、粉末、薄材等材料及特殊不規則小樣品或少量樣品檢測，能快速...
能量色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年2月28日啟用。技術指標 1 ※設備為手持式X射線螢光光譜儀，採用45kV Rh靶X射線管作為激發源，最大管電流50uA,具有高分辯矽漂移(SDD)探測器； 2 具有5位置濾光片...
EDX，全稱:Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy，能量色散X射線光譜儀 作用 EDX是藉助於分析試樣發出的元素特徵X射線波長和強度實現的， 根據不同元素特徵X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中...
順序式X射線螢光光譜儀，成份分析儀器，主要用於各種岩礦和建材的分析。主要用途 分析元素範圍：F-U;分析含量範圍：微量（ppm）一常量（%）主要用於各種岩礦和建材的分析，如：矽酸鹽、矽鋁酸鹽、碳酸鹽、磷灰石、鋁土礦、水泥、陶瓷、...
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器，配0.23°,0.46°兩個準直器； 自動進樣器：60位X-Y二維全自動機器人進樣器； 高壓發生器： 穩定性：外電源波動±1%...
全反射X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年11月28日啟用。技術指標 可分析元素範圍：Al~U（靶元素和與靶元素干擾嚴重的元素除外） 濃度範圍：10-9~100% 檢出限：Ni≤2pg 激發源：最大功率≥30W；最大激發...
