X射線螢光光譜儀32SA是一種用於化學領域的分析儀器，於2011年7月20日啟用。
基本介紹
- 中文名：X射線螢光光譜儀32SA
- 產地：日本
- 學科領域：化學
- 啟用日期：2011年7月20日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
技術指標,主要功能,
技術指標
設備精密度≤0.6%；設備穩定性≤1.4%。
主要功能
鋼鐵及其原材料的元素分析。
X射線螢光光譜儀32SA
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