多道同時分析型X射線螢光光譜儀

多道同時分析型X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2013年11月11日啟用。

基本介紹

• 中文名：多道同時分析型X射線螢光光譜儀
• 產地：日本
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2013年11月11日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器

技術指標

用於入廠原輔材料檢驗；建有10條常用工作曲線；B（5）-U（92）大部分元素0.000x%--100%；2θ角準確度0.0025°；2θ角重複性0.0001°，掃描速度(2θ)0.1-240°/min可調。

主要功能

檢驗Fe\K\Na\Ca\Mg\P\V\Si\Al\Cr\Ni\Mo\Ti\Cu\Mn\Zn\Co。