X射線螢光光譜分析系統

X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2017年5月26日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線螢光光譜分析系統
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2017年5月26日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 原子螢光光譜儀

技術指標

1、獨特的UCCOTM技術，更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀，業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和粉末、液體安全回收裝置，全方位防護樣品對光管的污染5、點分析和面成像技術，可以實現樣品夾雜物分析6、多位樣品進樣器，可以進行無人值守和過夜分析 7、可選UniQuant無標樣分析軟體。

主要功能

全數控的第六代測角儀，可以提供高速度，準確度和精確度，可以快速分析元素周期表中的多達90個元素。集成了這些先進性能的設計。