能量色散型X射線螢光分析儀是高靈敏度高精度測定有害物質的儀器。
基本介紹
- 中文名：能量色散型X射線螢光分析儀
- 分析原理：能量色散X射線螢光分析法
- 分析元素：Si～U Na～U
- 樣品性狀： 最大460×380mm(高150mm)
作用,最先進儀器,性能特點,自動定性分析,定量分析,主要技術指標,
作用
ROHS Validator 能量色散型X射線螢光分析儀——高靈敏度高精度測定有害物質
最先進儀器
第三代3DFAMILY X射線螢光分析儀來自於中國，採用世界上最先進的矽SIPIN探測器（解析度為150ev），實現了無液態氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，最大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達到同樣的激發效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數的準確性，重複性。
性能特點
◎ 高靈敏度---自動切換4種濾光片
在測定微量成分時，由於X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特徵譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此螢光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調整出最具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
自動定性分析
A， 自動過濾背景
X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，軟體可自動過濾背景對分析結果的干擾，
從而能確保對任何塑膠樣品的進行快速準確的分析。
B， 自動剝離重疊峰
當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由
此產生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發的軟體自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
C， 自動補償逃逸峰
逃逸峰：由於採用的是Si針半導體探測器，因此當X射線螢光在通過探測器的時候，如果某種元素
的含量較高(能量也會相應的較高)，其被Si吸收的機率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量
值減去Si能量值的地方回產生一個峰，此峰即為逃逸峰。
D， 自動追蹤譜圖漂移
在電壓不穩的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
定量分析
A，FP基礎參數法
B，標準法
C，1點校正
主要技術指標
分析原理 能量色散X射線螢光分析法
分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）
檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
樣品形狀 最大460×380mm(高150mm)
樣品 塑膠/金屬/紙/塗料/油墨/液體
樣品室氣氛 大氣
X射線管 靶材 Rh
管電壓 最大50KV
管電流 最大1mA
X射線照射徑 1/3/5mm
防護 <0.1mR/Hr (輻射低於電腦螢幕）
檢測器 矽SIPIN探測器
光學圖像觀察 倍率15倍
軟體 定性分析：自動定性（自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補償逃逸峰/自動補償譜圖漂移）
照射徑： 1/3/5mm
定量分析： 基礎參數法/標準法/1點校正
計算機 CPU PentiumIV1.8GHz以上
記憶體 256MB以上
硬碟 20GB以上
OS WindowXP
監視器 17寸LCD
周圍溫度 10～35。C（性能溫度）/5～40。C（動作溫度）
周圍濕度 5～31。C時溫度範圍：最大相對濕度80%以下
31～40。C時溫度範圍：相對濕度50%以下
電源 AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗電力 1.3KVA以下（含計算機、LCD、印表機）
設備重量 約65kg(不含桌子、計算機）
外形寸法 600（W）×545（D）×435（H）mm
