X射線螢光光譜分析儀

X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2015年6月11日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線螢光光譜分析儀
• 產地：德國
• 學科領域：化學工程
• 啟用日期：2015年6月11日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀

技術指標

儀凝遙道器測量線性誤差：Cd：7.7%；儀器測量重複性： Cd：1.5%；線性誤差的擴展不確地犁定度：U=5%,k=2。

主要功能

不淋歡察同元素具有波長不同的特徵X射線跨套甩譜，而挨鞏祝各譜線的螢光強度又夜舟挨罪與元素的濃度呈一定關係，照嘗獄頌測定待測元素特徵X射線譜線的波長和強度就可以進行定性和定量分析。