X射線螢光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2017年12月1日啟用。
X射線螢光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析...
X射線螢光光譜儀92SA X射線螢光光譜儀92SA是一種用於化學領域的分析儀器，於2010年8月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%； 設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
根據色散方式不同，X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀（波長色散）和X射線螢光能譜儀（能量色散）。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀...
X射線螢光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2017年12月1日啟用。技術指標 X射線光管陽極材料：銠靶 最大功率：4kW 最大額定電壓：60kV 最大額定電流：160mA 樣品最大尺寸：直徑51.5mm，高40mm 分析腔體溫度：30±0.05℃...
X射線式螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年11月1日啟用。技術指標 S8 Tiger分析元素範圍：O8—U92 S8 Tiger分析含量範圍：0.1ppm到100% 高壓發生器： S8 Tiger最大功率≥4kW；最大電壓≥60kV，20-60 kV 間 1 ...
X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測...
太陽監測器正對太陽,監測太陽活動,從而得到入射的太陽X射線能譜,結合X射線譜儀,獲得到相關元素的絕對豐度。在月表向陽面,當太陽X射線射到月表,發生光電效應,產生X射線螢光;這些螢光被X射線譜儀某個(些)探測器單元探測到,經過後級...
多道X射線螢光光譜儀是一種用於交通運輸工程領域的分析儀器，於2011年12月13日啟用。技術指標 可同時無損分析36種元素，分析範圍4Be～92U。主要功能 能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量，具有靈敏度高、精度好、性能穩定、分析...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀，靶材及功率：Rh靶 4kW，可以對5B到92U進行快速定性、定量分析，元素的檢量範圍0.0001%~...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差：Cd：7.7%；儀器測量重複性： Cd：1.5%；線性誤差的擴展不確定度：U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
儀器 X射線螢光分析儀（見彩圖）主要由激發、色散（波長和能量色散）、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處，但在色散和探測方法上卻完全不同。在激發源和測量裝置的要求上，...
《X射線螢光光譜儀》是2008年化學工業出版社出版的圖書，作者是羅立強、詹秀春。內容簡介 本書分十二章介紹了X射線螢光光譜分析的原理，儀器主要部件，定性與定量分析方法，基體校正與數據處理方法，樣品製備技術，具有共性的儀器校正方法、...
螢光光譜儀簡介 結構 由光源、激發光源、發射光源、試樣池、檢測器、顯示裝置等組成。分類 螢光光譜儀可分為X射線螢光光譜儀和分子螢光光譜儀。原理 主要用途 1.螢光激發光譜和螢光發射光譜 2.同步螢光（波長和能量）掃描光譜 3.3D（...
全反射X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年11月28日啟用。技術指標 可分析元素範圍：Al~U（靶元素和與靶元素干擾嚴重的元素除外） 濃度範圍：10-9~100% 檢出限：Ni≤2pg 激發源：最大功率≥30W；最大激發...
X射線光電譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年4月27日啟用。技術指標 主工作室：規定真空度（烘烤除氣後）≤5×10-10mbar，極限真空度（烘烤除氣後）1.54×10-10mbar；進樣室：規定真空度（烘烤除氣後）≤5×10-8...
X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2015年5月1日啟用。技術指標 懸浮顆粒物過濾器 符合 RoHS 及 WEEE 的分析 法醫及痕量分析 營養補充劑 磁性介質和半導體 土壤污染 過濾...
X射線螢光光譜岩芯掃描系統 X射線螢光光譜岩芯掃描系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年5月1日啟用。技術指標 MSCL-XRF。主要功能 科研用，測試樣品各項參數。
因此,只要測出螢光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是螢光X射線定性分析的基礎。此外,螢光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關係，據此，可以進行元素定量分析。編輯本段 主要用途 X螢光光譜儀根據各元素的特徵X射線的...
X射線譜分析[法]（X-ray spectrum analysis）是2015年公布的計量學名詞。定義 根據被測物質所產生的 X 射線譜進行定性和定量分析的方法。包括 X 射線發射光譜分析和 X 射線吸收光譜分析。出處 《計量學名詞》第一版。公布時間 2015年...
螢光譜儀是一種用於化學、生物學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2012年12月1日啟用。技術指標 光學 所有波長全反射聚焦，微樣品精確成像 光源 無臭氧Xe燈 光譜計 平面光柵，Czery-Turner設計，所有波長保持聚 激發 200-...
x射線螢光測氯儀 x射線螢光測氯儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2015年12月31日啟用。技術指標 LLD＝0.3ppm；濃度範圍：1ppm ～4% )。主要功能 測試總氯。
X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2017年5月26日啟用。技術指標 1、獨特的UCCOTM技術，更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀，業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和...
X射線螢光光譜儀制樣設備 X射線螢光光譜儀制樣設備是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2016年11月18日啟用。技術指標 40噸壓片機和六頭電熱熔融爐。主要功能 樣品製備。
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器，於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW，穩定度±0.0005%，測角儀角度準確度≤±0.001°；角度重複性≤±0.0001°分光晶體：LiF(200)，PET，XS55，LiF(220)，Ge晶體，測試...
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器，配0.23°,0.46°兩個準直器； 自動進樣器：60位X-Y二維全自動機器人進樣器； 高壓發生器： 穩定性：外電源波動±1%...
D自動追蹤譜圖漂移 在電壓不穩的情況下，可對RoHS螢光分析儀掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。3定量分析 AFP基礎參數法 B標準法 C1點校正 參數 分析原理能量色散X射線螢光分析法 分析元素Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）Na～U(...
