X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年5月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:X-螢光能譜儀
- 產地:美國
- 學科領域:化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術
- 啟用日期:2015年5月1日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年5月1日啟用。
X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年5月1日啟用。技術指標 懸浮顆粒物過濾器 符合 RoHS 及 WEEE 的分析 法醫及痕量分析 營養補充劑 磁性介質和半導體 土壤污染 過濾...
攜帶型X螢光能譜儀是專業的指令篩選儀器。概述:該儀器提供一種快速、可靠、無損樣品的篩檢手段,對於塑膠外殼、印刷電路板、電纜、含鍍層的緊固件等都可以用這一件輕便設備進行多元素無損檢測。輕扣扳機,對樣品中的鎘、鉛、汞、鉻總量...
X射線螢光能譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年6月9日啟用。技術指標 1 分析元素範圍:Na11~Bk97 2 能量解析度(Mn-Ka):優於140eV,在30,000cps下。嚴格依照ISO15632國際標準測量 3 可處理最大計數率:850,000CPS,最...
X射線螢光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析...
能量色散X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2011年11月10日啟用。技術指標 檢測項目:適用於金屬、化工、石油、土壤、礦石元素分析,滿足固體、液體、粉末、 水質及油類等形態樣品中的多種無機元素的定性、半定量...
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
同時樣品受激發後發射某一元素的特徵X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關,因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。因此,X射線螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WDEXRF)和能量色散型(EDXRF)。為了滿足現代企業管理和生產要求,...
X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X螢光(二次X射線),探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的...
X射線螢光光譜儀92SA X射線螢光光譜儀92SA是一種用於化學領域的分析儀器,於2010年8月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%; 設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
X-螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2009年5月1日啟用。技術指標 檢測元素範圍:O~U (Be~N需另外配置分光晶體);測量範圍ppm~100%;檢測器:流氣正比探測器和閃爍探測器;長期穩定性:0.04%。主...
儀器 X射線螢光分析儀(見彩圖)主要由激發、色散(波長和能量色散)、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處,但在色散和探測方法上卻完全不同。在激發源和測量裝置的要求上,...
X螢光光譜分析儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2011年5月6日啟用。技術指標 元素範圍:Be4—U92 含量範圍:0.0001%—100% 最大功率≥4kW;最大電壓≥60kV,20-60 kV間1 kV連續可調 最大電流≥170mA , 5...
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年5月5日啟用。技術指標 X射線管靶: 銠靶(Rh) X射線管壓: 60KV(Max) X射線管壓: 150mA(Max)檢測元素範圍:19F...
X射線式螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年11月1日啟用。技術指標 S8 Tiger分析元素範圍:O8—U92 S8 Tiger分析含量範圍:0.1ppm到100% 高壓發生器: S8 Tiger最大功率≥4kW;最大電壓≥60kV,20-60 kV 間 1 ...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒;角度準確度優於±0.001°,角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測,具有...
在與西格巴恩的合作下,美國惠普公司於1969年製造了世界上首台商業單色X射線光電子能譜儀。1981年西格巴恩獲得諾貝爾物理學獎,以表彰他將XPS發展為一個重要分析技術所作出的傑出貢獻。基本原理 X射線光子的能量在1000~1500 ev之間,不僅...
到了現在,該方法作為非破壞性分析技術,並作為過程控制的工具,廣泛套用於採掘和加工工業。原則上,最輕的元素,可分析出鈹(z=4),但由於儀器的局限性和輕元素的低X射線產量,往往難以量化,所以針對能量分散式的X射線螢光光譜儀,...
X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品。技術原理 X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品。...
螢光譜儀是一種用於化學、生物學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年12月1日啟用。技術指標 光學 所有波長全反射聚焦,微樣品精確成像 光源 無臭氧Xe燈 光譜計 平面光柵,Czery-Turner設計,所有波長保持聚 激發 200...
波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器,於2006年06月09日啟用。技術指標 RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件, Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在...
因此,X射線螢光的能量或波長是特徵性的,與元素有一一對應的關係。 K層電子被逐出後,其空穴可以被外層中 任一電子所填充,從而可產生一系列的譜線,稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X...
掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年4月1日啟用。技術指標 X射線管 4KW薄窗,Rh靶,管電流140mA;全自動計算機控制,2θ掃描速度連續掃描0.1°-300°/min,定位重現性...
超級X螢光光譜儀 超級X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2016年11月17日啟用。技術指標 元素分析範圍從硫(S)到鈾(U)。分析含量一般為0.1ppm到99.9%。主要功能 材料分析。
波長型X螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2015年4月10日啟用。技術指標 測量元素:O-U,B單通道;含量範圍:ppm-100%;B可測到500ppm;光管最大功率:4kW;高壓發生器最大功率:4kW。主要功能 能夠...
日本理學X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2004年12月1日啟用。技術指標 2θ角15°193°,RSD 主要功能 金屬材料/陶瓷/玻璃/土壤/礦物中的元素定性可測元素B~U範圍內的所有元素。RSD<1%,最大功率4KW,微區分析...
X螢光光譜儀-Axios是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2012年5月22日啟用。技術指標 可分析F-U間元素:常量(%)-微量(ppmm),精密度(主、次量元素)RSD%:0.1-1.0。計數線性:SC為1500kcps,FPC為3000kcps。動態長期穩定性:0...
X螢光光譜測量系統是一種用於地球科學、材料科學、核科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2010年11月9日啟用。技術指標 ≥500道,4KW,160mA/60KV。主要功能 對礦物樣品、合金樣品、土壤樣品、等固體樣品以及液體樣品...
X螢光光譜儀EDX1800B是眾和儀器最新推出,針對EDX1800B在各個領域的廣泛套用。性能優勢 下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求 準直器和濾光片:多種準直器和濾光片的電動切換,滿足各種測試方式的套用 移動平台:精細的手動移動...
5.螢光壽命測量,包括壽命分辨及時間分辨 6.計算機採集光譜數據和處理數據(Datamax和Gram32)類別 指標 儀器類別: 03030429 /儀器儀表 /成份分析儀器 /X螢光譜儀 指標信息:激發光源 Xe 450W 激發單色儀:4nm/mm,200nm~700nm 發射...