波長型X螢光光譜儀

波長型X螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2015年4月10日啟用。

基本介紹

• 中文名：波長型X螢光光譜儀
• 產地：荷蘭
• 學科領域：物理學、化學、材料科學
• 啟用日期：2015年4月10日
• 所屬類別：分析儀器 > 波譜儀器

技術指標

測量元素：O-U，B單通墊估灶地霉紋道；含量范良贈匪喇圍：ppm-100%；B可測到500ppm；光管最大功率囑射殼：4kW；高漿槓壓發生器最大功率：4kW。

主要功能

能夠快速、半定量的測定固體、液體中的元素含量；測量元素範圍：O-U，B；含量舉蜜鍵訂範圍：ppm-100%；諒犁煉B可測到500ppm。