全自動掃描型波長色散X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2013年12月11日啟用。
全自動掃描型波長色散X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2013年12月11日啟用。技術指標用於入廠原輔材料檢驗；建有10條常用工作曲線；B（5）-U（92）大部分元素0.000x%--100%；2θ角準確度0....
全自動X射線螢光光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於2014年04月30日啟用。技術指標 1 類型：順序掃描波長色散型X射線螢光光譜儀； 2 元素分析範圍：氧(8)—鈾(92)； 3 濃度範圍從ppm到主含量； 4 長期動態綜合穩定性：≤0...
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生螢光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器，於2006年06月09日啟用。技術指標 RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件， Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在...
因此，X射線螢光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。為了滿足現代企業管理和生產要求，必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制，傳統的化學分析方法已經不能完全滿足生產過程的需要。
波長色散X射線螢光分析儀，岩礦分析與鑑定術語。樣品被入射X射線激發產生的螢光X射線，經分光器色散後，由測角儀（θ）聯動裝置上的探測器（2θ），在不同方向（角度-2θ）上，對X射線螢光光譜進行譜線波長和強度測量，最終給出待測...
波長色散台式X射線螢光光譜儀是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的分析儀器，於2014年5月14日啟用。技術指標 分析元素範圍：從氟到鈾（F→U）。分析：固體、液體、粉末、合金以及薄膜。大氣：空氣、氦氣或真空。X射線管：...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒；角度準確度優於±0.001°，角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測，具有...
一、波長色散與能量色散能力 二、探測器解析度比較 三、探測器的選用 參考文獻 第五章 X螢光光譜儀 第一節 波長色散X射線螢光光譜儀 一、X射線光管、探測器與光譜儀結構 二、分光晶體及解析度 三、脈衝放大器和脈高分析器 第二節...
波長色散譜儀 波長色散譜儀是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器，於2010年01月14日啟用。技術指標 檢測限度為0.05%。主要功能 元素定性、定量分析。
在波長色散型儀器中，根據可同時分析元素的多少可分為，單道掃描X螢光光譜儀、小型多道X螢光光譜儀和大型X螢光光譜儀。選型誤區 隨著技術發展，X射線螢光分析儀的種類越來越多，商品名稱也比較混亂，再加上用戶對相關知識的了解有限，...
單波長色散X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年10月28日啟用。技術指標 符合ASTM 7039，GB/T 11140和SH/T 0842標準要求，硫重複性0.8 ppm (2ppm), 1.8 ppm (10ppm), 12.4 ppm (500ppm); 檢測範圍0....
ROHS檢測儀就是X射線螢光光譜儀，其分析原理也就是X射線螢光光譜儀的分析原理。X射線螢光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線螢光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線螢光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角...
