波長色散台式X射線螢光光譜儀是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的分析儀器，於2014年5月14日啟用。
波長色散台式X射線螢光光譜儀是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的分析儀器，於2014年5月14日啟用。技術指標分析元素範圍：從氟到鈾（F→U）。分析：固體、液體、粉末、合金以及薄膜。大氣：空氣、氦氣或真空。X...
波長色散X射線螢光分析儀，岩礦分析與鑑定術語。樣品被入射X射線激發產生的螢光X射線，經分光器色散後，由測角儀（θ）聯動裝置上的探測器（2θ），在不同方向（角度-2θ）上，對X射線螢光光譜進行譜線波長和強度測量，最終給出待測...
波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、食品科學技術領域的分析儀器，於2008年12月23日啟用。技術指標 最大功率3.6KV；0～60KV間，1KV連續可調；高壓發生器輸出穩定度±0.0001％；12位自動進樣器；下照式，六塊晶體。主要功能 ...
x 射線螢光光譜儀和X 射線螢光分析技術及其計算機軟體的不斷開發，X 射線螢光光譜儀現已由單一的波長色散 X 射線螢光光譜儀發展成擁有波長色散、能量色散、電子探針、全反射、同步輻射和質子 X 射線光譜儀等一大家族。
根據色散方式不同，X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀（波長色散）和X射線螢光能譜儀（能量色散）。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀，靶材及功率：Rh靶 4kW，可以對5B到92U進行快速定性、定量分析，元素的檢量範圍0.0001%~...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒；角度準確度優於±0.001°，角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測，具有...
一、波長色散與能量色散能力 二、探測器解析度比較 三、探測器的選用 參考文獻 第五章 X螢光光譜儀 第一節 波長色散X射線螢光光譜儀 一、X射線光管、探測器與光譜儀結構 二、分光晶體及解析度 三、脈衝放大器和脈高分析器 第二節...
順序式波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2009年3月16日啟用。技術指標 長期動態綜合穩定性：0.04%；晶體：彎晶，PX-10人工膜晶體；分析速度：每個元素...
波長色散型X射線螢光光譜儀由X光管激發源、試樣室、晶體分光器、探測器和計數系統幾個部分組成。而能量色散型X射線螢光光譜儀則用解析度較高的半導體探測器和多道脈衝分析器代替晶體分光器和一般探測器。X射線螢光分析廣泛套用於鋼鐵、...
單波長色散X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年10月28日啟用。技術指標 符合ASTM 7039，GB/T 11140和SH/T 0842標準要求，硫重複性0.8 ppm (2ppm), 1.8 ppm (10ppm), 12.4 ppm (500ppm); 檢測範圍0....
波長色散譜儀 波長色散譜儀是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器，於2010年01月14日啟用。技術指標 檢測限度為0.05%。主要功能 元素定性、定量分析。
