波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、食品科學技術領域的分析儀器,於2008年12月23日啟用。
基本介紹
- 中文名:波長色散型X射線螢光光譜儀
- 產地:瑞士
- 學科領域:化學、食品科學技術
- 啟用日期:2008年12月23日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、食品科學技術領域的分析儀器,於2008年12月23日啟用。
波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器,於2006年06月09日啟用。技術指標 RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件, Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在...
波長色散式X射線螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2012年10月23日啟用。技術指標 布拉格角範圍:13到98度28波 分析晶體:氟化鋰200,可選其他晶體 元素範圍:Kα 22-48(鈦到銀) 元素範圍:Lα 56-...
波長色散型X螢光光譜儀是一種用於化學工程、材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年10月1日啟用。技術指標 可以對4Be到92U進行定性、定量分析;可以分析材料的狀態包括:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品;採用新光學...
(c)容易受元素相互干擾和疊加峰影響。分類 X螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。以X螢光的波粒二象性中波長特徵為原理的稱為波長色散型,以能量特徵為原理的稱為能量色散型。
波長色散X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2007年4月3日啟用。技術指標 超銳端窗Rh靶X光管,最大功率可達4kW(60kV,125mA)的高壓發生器;晶體 8塊,覆蓋了程式中必須使用的所有波長;測角儀: 2θ角準確度0.0025...
波長色散X射線螢光分析儀,岩礦分析與鑑定術語。樣品被入射X射線激發產生的螢光X射線,經分光器色散後,由測角儀(θ)聯動裝置上的探測器(2θ),在不同方向(角度-2θ)上,對X射線螢光光譜進行譜線波長和強度測量,最終給出待測...
因此,X射線螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WDEXRF)和能量色散型(EDXRF)。為了滿足現代企業管理和生產要求,必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制,傳統的化學分析方法已經不能完全滿足生產過程的需要。
全自動X射線螢光光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器,於2014年04月30日啟用。技術指標 1 類型:順序掃描波長色散型X射線螢光光譜儀; 2 元素分析範圍:氧(8)—鈾(92); 3 濃度範圍從ppm到主含量; 4 長期動態綜合穩定性:≤0...
根據色散方式不同,X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀(波長色散)和X射線螢光能譜儀(能量色散)。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀...
第十一章X射線螢光光譜儀的特性與參數選擇153 第一節波長色散型X射線螢光光譜儀的特性與技術進展153 第二節X射線高壓發生器154 第三節X射線光管特性與選擇使用154 第四節濾光片、狹縫和準直器156 第五節晶體適用範圍及其選擇157 第...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀,靶材及功率:Rh靶 4kW,可以對5B到92U進行快速定性、定量分析,元素的檢量範圍0.0001%~...
全自動掃描型波長色散X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年12月11日啟用。技術指標 用於入廠原輔材料檢驗;建有10條常用工作曲線;B(5)-U(92)大部分元素0.000x%--100%;2θ角準確度0.0025°;2θ角重複性0....
波長色散型X射線螢光光譜儀由X光管激發源、試樣室、晶體分光器、探測器和計數系統幾個部分組成。而能量色散型X射線螢光光譜儀則用解析度較高的半導體探測器和多道脈衝分析器代替晶體分光器和一般探測器。X射線螢光分析廣泛套用於鋼鐵、...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒;角度準確度優於±0.001°,角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測,具有...
波長色散x射線螢光光譜法wavelength-}isl3ersi}c Y-rayIluoreacenc} sperrrnmeuy X射線照射試樣激發產生各種波長的光,通過晶體衍射進行空間色散,分別測量不同波長的x射線分析線峰值強度,進行定性和定量分析的方法。適用於原子序數4(...
《波長色散型螢光X射線分析裝置》是株式會社理學於2017年8月31日申請的專利,該專利公布號為CN109791116B,專利公布日為2021年6月18日,發明人是加藤秀一、山田隆、片岡由行。專利摘要 一種波長色散型螢光X射線分析裝置,包括單一的...
波長色散譜儀 波長色散譜儀是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2010年01月14日啟用。技術指標 檢測限度為0.05%。主要功能 元素定性、定量分析。
波長色散X射線螢光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用...
在樣品化學特徵(成分與分配等)研究方面,除常規的重量法、容量法、比色法所用設備外,常用實驗室精密儀器有各種原子吸收光譜儀、原子螢光光譜儀等。這類儀器能測定60~70種微、痕量元素,檢出限可達到ppb級。波長色散X射線螢光光譜儀...
北京安科慧生科技有限公司成立於2012年,公司以自主研發、生產、銷售科學儀器為己任,公司主要產品為單波長色散X射線螢光光譜儀、雙向曲面晶體DCC(Doubly curved crystal optics)等。北京安科慧生科技有限公司是以自主研發、生產、銷售科學儀器...