《波長色散型螢光X射線分析裝置》是株式會社理學於2017年8月31日申請的專利，該專利公布號為CN109791116B，專利公布日為2021年6月18日，發明人是加藤秀一、山田隆、片岡由行。
基本介紹
- 中文名：波長色散型螢光X射線分析裝置
- 申請日：2017年8月31日
- 公布日：2021年6月18日
- 公布號：CN109791116B
- 申請號：2017800596011
- 專利權人：株式會社理學
- 地址：日本東京都
- 發明人：加藤秀一; 山田隆; 片岡由行
- Int. Cl.：G01N23/223(2006.01)I; G01N23/207(2006.01)I
- 專利代理機構：北京三幸商標專利事務所(普通合夥)11216
- 代理人：劉卓然
- 優先權：2016-194356 2016.09.30 JP
- PCT進入國家階段日：2019.03.27
- PCT申請數據：PCT/JP2017/031494 2017.08.31
- PCT公布數據：WO2018/061607 JA 2018.04.05
專利摘要
一種波長色散型螢光X射線分析裝置，包括單一的一維檢測器(10)，該一維檢測器(10)具有呈直線狀排列的多個檢測元件(7)，該波長色散型螢光X射線分析裝置包括檢測器位置變更機構(11)，該檢測器位置變更機構(11)用於針對一維檢測器(10)的位置，設定在檢測元件(7)的排列方向與分光元件(6)中的分光角度方向平行的平行位置和與該分光元件(6)中的分光角度方向相交叉的交叉位置中的任意者，在平行位置，一維檢測器(10)的感光面位於匯聚二次X射線(42)的焦點處，在交叉位置，感光狹縫(9)設定於匯聚二次X射線(42)的焦點處，一維檢測器(10)的感光面位於感光狹縫(9)的與分光元件(6)離開的匯聚二次X射線(42)的行進方向側。
