波長色散型X螢光光譜儀是一種用於化學工程、材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年10月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:波長色散型X螢光光譜儀
- 產地:日本
- 學科領域:化學工程、材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術
- 啟用日期:2012年10月1日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
波長色散型X螢光光譜儀是一種用於化學工程、材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年10月1日啟用。
波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器,於2006年06月09日啟用。技術指標 RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件, Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在...
波長色散型X螢光光譜儀是一種用於化學工程、材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年10月1日啟用。技術指標 可以對4Be到92U進行定性、定量分析;可以分析材料的狀態包括:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品;採用新光學...
波長色散X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2007年4月3日啟用。技術指標 超銳端窗Rh靶X光管,最大功率可達4kW(60kV,125mA)的高壓發生器;晶體 8塊,覆蓋了程式中必須使用的所有波長;測角儀: 2θ角準確度0.0025...
(c)容易受元素相互干擾和疊加峰影響。分類 X螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。以X螢光的波粒二象性中波長特徵為原理的稱為波長色散型,以能量特徵為原理的稱為能量色散型。
波長色散X射線螢光分析儀,岩礦分析與鑑定術語。樣品被入射X射線激發產生的螢光X射線,經分光器色散後,由測角儀(θ)聯動裝置上的探測器(2θ),在不同方向(角度-2θ)上,對X射線螢光光譜進行譜線波長和強度測量,最終給出待測...
因此,X射線螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WDEXRF)和能量色散型(EDXRF)。為了滿足現代企業管理和生產要求,必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制,傳統的化學分析方法已經不能完全滿足生產過程的需要。
不同元素的螢光X射線具有各自的特定波長,因此根據螢光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀,對於一定晶面間距的晶體,由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ,從而確定元素成分。事實上,在定性分析時,可以靠...
全自動X射線螢光光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器,於2014年04月30日啟用。技術指標 1 類型:順序掃描波長色散型X射線螢光光譜儀; 2 元素分析範圍:氧(8)—鈾(92); 3 濃度範圍從ppm到主含量; 4 長期動態綜合穩定性:≤0...
全自動掃描型波長色散X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年12月11日啟用。技術指標 用於入廠原輔材料檢驗;建有10條常用工作曲線;B(5)-U(92)大部分元素0.000x%--100%;2θ角準確度0.0025°;2θ角重複性0....
第十一章X射線螢光光譜儀的特性與參數選擇153 第一節波長色散型X射線螢光光譜儀的特性與技術進展153 第二節X射線高壓發生器154 第三節X射線光管特性與選擇使用154 第四節濾光片、狹縫和準直器156 第五節晶體適用範圍及其選擇157 第...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒;角度準確度優於±0.001°,角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測,具有...
根據產生的螢光X射線的強度,就能定量地求出各元素含量,就是是螢光X射線定量分析的基礎。X射線螢光光譜儀,根據分光原理,可以分為波長色散型和能量色散型兩種基本類型。波長色散型X射線螢光光譜儀由X光管激發源、試樣室、晶體分光器、...
波長色散譜儀 波長色散譜儀是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2010年01月14日啟用。技術指標 檢測限度為0.05%。主要功能 元素定性、定量分析。
ROHS檢測儀就是X射線螢光光譜儀,其分析原理也就是X射線螢光光譜儀的分析原理。X射線螢光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線螢光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線螢光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角...