順序式波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2009年3月16日啟用。
基本介紹
- 中文名:順序式波長色散型X射線螢光光譜儀
- 產地:美國
- 學科領域:地球科學、材料科學、冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術
- 啟用日期:2009年3月16日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
順序式波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2009年3月16日啟用。
順序式波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2009年3月16日啟用。技術指標長期動態綜合穩定性:0.04%;晶體:彎晶,PX-10人工膜晶體;...
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線),從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
順序式X射線螢光光譜儀,成份分析儀器,主要用於各種岩礦和建材的分析。主要用途 分析元素範圍:F-U;分析含量範圍:微量(ppm)一常量(%)主要用於各種岩礦和建材的分析,如:矽酸鹽、矽鋁酸鹽、碳酸鹽、磷灰石、鋁土礦、水泥、陶瓷、...
波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器,於2006年06月09日啟用。技術指標 RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件, Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在...
(c)容易受元素相互干擾和疊加峰影響。分類 X螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。以X螢光的波粒二象性中波長特徵為原理的稱為波長色散型,以能量特徵為原理的稱為能量色散型。
波長色散X射線螢光分析儀,岩礦分析與鑑定術語。樣品被入射X射線激發產生的螢光X射線,經分光器色散後,由測角儀(θ)聯動裝置上的探測器(2θ),在不同方向(角度-2θ)上,對X射線螢光光譜進行譜線波長和強度測量,最終給出待測...
因此,X射線螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WDEXRF)和能量色散型(EDXRF)。為了滿足現代企業管理和生產要求,必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制,傳統的化學分析方法已經不能完全滿足生產過程的需要。
根據色散方式不同,X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀(波長色散)和X射線螢光能譜儀(能量色散)。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀...
波長色散型X射線螢光光譜儀由X光管激發源、試樣室、晶體分光器、探測器和計數系統幾個部分組成。而能量色散型X射線螢光光譜儀則用解析度較高的半導體探測器和多道脈衝分析器代替晶體分光器和一般探測器。X射線螢光分析廣泛套用於鋼鐵、...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀,靶材及功率:Rh靶 4kW,可以對5B到92U進行快速定性、定量分析,元素的檢量範圍0.0001%~...
第十一章X射線螢光光譜儀的特性與參數選擇153 第一節波長色散型X射線螢光光譜儀的特性與技術進展153 第二節X射線高壓發生器154 第三節X射線光管特性與選擇使用154 第四節濾光片、狹縫和準直器156 第五節晶體適用範圍及其選擇157 第...
波長型X螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2015年4月10日啟用。技術指標 測量元素:O-U,B單通道;含量範圍:ppm-100%;B可測到500ppm;光管最大功率:4kW;高壓發生器最大功率:4kW。主要功能 能夠...
《波長色散型螢光X射線分析裝置》是株式會社理學於2017年8月31日申請的專利,該專利公布號為CN109791116B,專利公布日為2021年6月18日,發明人是加藤秀一、山田隆、片岡由行。專利摘要 一種波長色散型螢光X射線分析裝置,包括單一的...
40年代末,隨著核物理探測器的改進,各種計數器相繼套用在X射線的探測上,此法的實際套用才成為現實。1948年H.弗里德曼和L.S.伯克斯製成了一台波長色散的X射線螢光分析儀,此法才開始發展起來。此後,隨著X射線螢光分析理論和方法的...
第十一章 X射線螢光光譜儀的特性與參數選擇 第一節 波長色散型X射線螢光光譜儀的特性與技術進展 第二節 X射線高壓發生器 第三節 X射線光管特性與選擇使用 第四節 濾光片、光闌和準直器 第五節 晶體適用範圍及其選擇 第六節 2θ...
波長色散X射線譜法 波長色散X射線譜法是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 用X射線光譜儀進行微區化學成分分析的方法。從譜峰波長可確定試樣所含元素,從譜峰強度可計算元素的含量。出處 《材料科學技術名詞》。
全自動掃描型波長色散X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年12月11日啟用。技術指標 用於入廠原輔材料檢驗;建有10條常用工作曲線;B(5)-U(92)大部分元素0.000x%--100%;2θ角準確度0.0025°;2θ角重複性0....
波長色散譜儀 波長色散譜儀是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2010年01月14日啟用。技術指標 檢測限度為0.05%。主要功能 元素定性、定量分析。
波長色散X射線螢光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用...