順序式X射線螢光光譜儀

順序式X射線螢光光譜儀，成份分析儀器，主要用於各種岩礦和建材的分析。

基本介紹

• 中文名：順序式X射線螢光光譜儀
• 高壓供給：SC：500～1000V
• 步進掃描：0.002～1.0°
• 連續掃描速度：0.1～180°/min

主要用途

分析元素範圍：F-U;分析含量範圍：微量（ppm)一常量（%）主要用於各種岩礦和建材的分析，如：矽酸鹽、矽鋁酸鹽、碳酸鹽、磷灰石、鋁土礦、水泥、陶瓷、土壤、煙塵粒的主元素及微量元素的分析。主元素（氧化物形式）：SiO2、TiO2、Al2O3、Fe2O3、MnO、MgO、CaO、Na2O、K2O、P2O5；微量元素：Ba、Co、Cr、Cu、Ga、Nb、Ni、Pb、Rb、Sr、Th、V、Y、Zn、Zr

儀器類別

03030428 /儀器儀表 /成份分析儀器 /流動注射分析儀

指標信息

3KW，端窗型Rh靶。分光晶體：LiF200,LiF220,PET,Ge,TAP,計算機全程自動控制，θ-2θ角獨立驅動，2θ掃描速度最大1200°/min，連續掃描速度0.1～180°/min，掃描角範圍：sc:5～118°(2θ),PC:7～148°(2θ),步進掃描：0.002～1.0°，停止位置重複性小於0.001°.高壓供給：SC：500～1000V，FPC：1500～2500V；計數線性：SC：1000kcps;FPC:2000kcps 工作站：硬體：Sun工作站，OS:UNIX(多任務，多視窗），軟體：定量分析：FP法，背景FP法，工作曲解法，線上重校正，基本效應校正4種類型回歸曲線，定性分析：平滑化、背景校正、自動選峰、定性鑑別，用函式擬合剝離峰，靈敏度自動控制制樣方法：玻璃片法和粉末壓片法