X射線螢光分析儀是通過X射線管產生的X射線作為雷射源，激發樣品產生螢光X射線。根據螢光X射線的波長和強度來確定樣品的化學組成。
基本介紹
- 中文名：f
- 外文名：h
簡介,檢測模式,套用領域,使用方法,注意事項,
簡介
該儀器通常能夠一次性檢測出多達25多種礦石及金屬元素，具體包括：Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Rb, Sr, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb, Ta, Hf, W, Pb, Bi。如需檢測某些其他種類的金屬元素，可以根據實際套用情況對機器進行相應的調整。
檢測模式
1、能夠對礦石、礦渣、土壤、沉積物以及其他類似的樣品進行快速的金屬元素含量分析。無論是進行原地檢測還是非原地檢測，功能強大的計算軟體能夠自動消除由於不同樣品的材質差異所造成的偏差，從而使操作者僅需將儀器探測頭直接接近樣品便可進行檢測，而無需其他任何數據輸入或者進行再次校準。根據對檢測精度的不同要求，測試時間僅需數秒到數分鐘。較適合於待測金屬元素的含量小於1%的情況。
2、能夠快速分析礦石樣本、精礦、礦渣的金屬元素成分。允許用戶通過運用特殊校正因子來進一步提高檢測精度。
套用領域
一、採礦勘探與礦石檢測
在現場快速、低成本對照直接取樣不到實驗室進行分析，進行礦石品位鑑定（浪聲科學儀器生產的Beethor X3G 系列 手持式光譜儀）。即時在現場進行元素鑑別以及有效篩選。檢測礦石種類可分析從磷礦（P）到鈾礦（U）之間的所有83種（元素）金屬礦：鉀礦、鈣礦、鈦礦、釩礦、鉻礦、錳礦、鐵礦、鈷礦、鎳礦、銅礦、鋅礦、鋯礦、鈮礦、鉬礦=錫礦、銻礦、鉛礦、鉿礦、鉭礦、鎢礦、錸礦、鉍礦等。非金屬礦：磷礦、硫礦、氯礦、砷礦、硒礦、溴礦、碘礦。貴重金屬礦：金礦、鉑礦、銀礦、鈀礦、銠礦、鈰礦、釕礦、鑭礦、釕礦、銪礦。通過對輸送料、精礦、礦渣進行現場分析以確定/跟
蹤提煉或者濃縮過程的有效性。通過實時就地分析多個樣本，實現對開採計畫進行指導，有效地管理挖掘、爆破工作。在現場確定土壤、沉積物或者鑽孔樣本的地質成分，以有效控制勘探成本。
二、環境監測與疾病預防
土地現場的污染金屬成分、污染模式、污染邊界的迅速調查與測量Innov-X手持式XRF分析儀在土壤中色金屬成分檢測方面符合EPA Method 6200。在空氣過濾介質、灰塵抹布的含鉛方面符合NIOSH Method 7702，OSHA Methods OSSAI,OSSI。污染水、廢水中的重金屬宛然成分、污染模式、污染邊界的迅速調查與測量。現場監測RCRA所涉及的金屬和優先控制的污染金屬。
原土地、污染水、廢水、等有害物質的現場處置最小化處理並給污染控制、補救方法的深度分析提供理論依據。因環境污染而導致的疾病與很多重金屬元素有關，如癌症（Ni,Ci）腎病（As,Pb）肝病（As，Cu）、肺塵症（Fe）哮喘(Ni)、帕金森氏綜合症（Mn）。
三、考古業與藝術品鑑定
XRF在過去的50年來一直被用來勘測考古材料和歷史材料，儘管有多種光譜設備可選擇，但是只有攜帶型工具才可以真正達到無損檢測，找也是XRF技術最吸引人的地方，由於可在現場工作，事實上它適應任何類型和形狀的物體進行檢測。
油品分析與質量檢查：可分析各類油品眾所含金屬成分種類及含量，幫助您購買到質量合格的各類油品。
合金測試與材料識別：對於飛機、輪船、機車、汽車、潛艇、宇宙飛船、採礦設備等各種轉運部件，通過檢測潤滑油中的磨損金屬粉末的種類及含量，確定部件是否存在安全隱患，避免重大安全事故的發生。
使用方法
作為一種質量檢測手段，我國大，中型水泥廠（新型乾法）幾乎都配套使用了X射線螢光分析儀。X射線螢光分析過程中產生誤差的原因主要有操作方面、儀器方面、以及試樣本身等三方面因素。
一、操作方面帶來誤差的因素
1、粉磨時未設定好粉磨時間和壓力，達不到要求的粉磨粒度或相應的料度分布。
實驗表明當粉磨時間短於試驗設定時間，測定結果就會產生波動。同時，粉磨時未按規定加適量助磨劑或所加助磨劑中含有所要分析的元素，都會給測定結果帶來較大影響。磨頭和磨盤裡留有前期樣品或被其它物質污染），結果也會產生誤差。
2、壓片時，未設定好時間和壓力。
壓力效果不好或壓片時樣品布入不均勻而產生了樣品的堆積分布不均，或壓片板（壓片頭）不潔淨（或上面粘有前期樣品）等，都會影響分析結果。
3、制樣未保護好，制樣裝入試樣盒的位置不當，結果給分析帶來誤差。
制樣未保護好有兩層含義：A.未保護好制樣光潔度。如用手指摸分析面、或用手指甲劃、用口吹、用濕毛巾擦分析面等；B.制樣在空氣中放置太久，使分析面與空氣中物質發生了物理化學變化。制樣裝盒位置不當，把測樣片裝倒了或測樣片表面與試樣盒表面成一傾斜角等，都會影響到射線管與分析面的距離，從而產生誤差。
4、螢光分析中，由於分析面上的樣品灰未除掉，久之影響到儀器真空度。
或由於操作者粗心，分析程式選錯，如測生料時用上測熟料的分析曲線或用了測石灰石的曲線，顯然結果不正確。
二、儀器方面的誤差因素
1、壓片板（或壓片頭）不光潔，導致分析面不光滑，從而影響測量結果。
2、光路真空度不合適，分光晶體、濾光片選擇不佳，使各種射線產生干擾，影響分析。
3、X射線管電壓、電流不穩定，從而產生結果波動。
4、隨著時間的延長，X光管內部元件尺寸位置變化引起初級X射線強度的變化，或X射線管陽極出現斑痕，靶元素在視窗沉積，給分析結果帶來誤差。
5、溫度的變化，引起分光晶體晶面間距變化，從而影響分光效率。正比計數管高壓漂移，溫度變化引起管內氣體成分變化，影響放大倍數。
6、電子電路的漂移，計數的統計誤差，檢測過程的時間損失引入的計數誤差等。
7、氣體的壓力、氮氣、甲烷氣體的流量、溫度等輻射通道條件的變化，都會影響光路中氣體對X射線的吸收。因此，氣瓶的減壓閥一旦調好，不要隨意再動，特別是更換新氣時，一定要嘗試著多次調氣壓，否則，由於氣流、氣壓不穩，使結果產生誤差。
三、試樣本身的誤差因素
1、試樣易磨性。有的試樣易磨性較差，對測定構成影響。
2、試樣成分。有的試樣基本組成成分與標準試樣組成成分不一致，也會影響測定結果。
3、基體效應。基體中其它元素對分析元素的影響，包括吸收和增強效應，吸收效應直接影響對分析元素的激發和分析元素的探測強度。增強效應使分析元素特徵輻射增強。
4、不均勻性效應。X射線強度與顆粒大小有關，大顆粒吸收大，小顆粒吸收小，這是試樣粒度的影響。
5、譜線干擾。各譜線系中譜線產生重疊、干擾，還有來自不同衍射級次的衍射線之間干擾。
注意事項
1、應將樣品磨細、壓實以減少試樣的不均勻性。
2、選擇無干擾的譜線、降低電壓至於擾元素激發電壓以下，選擇適當分光晶體、計數管、準直器或調整脈衝高度分析器、提高分辯本領，在分析晶體和探測器之間放置濾光片，濾去或減弱干擾譜線。
3、嚴格按儀器設備管理辦法安裝、調試好儀器設備，避免儀器誤差。
4、嚴格按照操作規程認真操作，避免人為的操作誤差。
