螢光X射線測厚儀是一種功能強大的材料塗/鍍層測量儀器，可套用於材料的塗/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。
基本介紹
- 中文名：螢光X射線測厚儀
- 儀器：材料塗/鍍層測量儀器
- 套用於：材料的塗/鍍層厚度、材料組成
- 主機：cmi900/950主機
基本信息,主要規格規格描述,功能,套用範圍,
基本信息
基於Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLinkFP套用軟體包，實現了對cmi900/950主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定最多5層、15種元素，數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求。
主要規格規格描述
1X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選X射線管功率可程式控制裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置感測器保護裝置，防止樣品碰創探測器視窗
3準直器程控交換系統最多可同時裝配6種規格的準直器，程式交換控制多種規格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準直器)在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)
5X射線探測系統封氣正比計數器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6樣品室CMI900CMI950－樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室－最大樣品台尺寸610mmx610mm300mmx300mm－XY軸程控移動範圍標準：152.4x177.8mm任選：50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm－Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm－XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程式控制、XY軸手動控制和Z軸程式控制、XYZ三軸手動控制
功能
－樣品觀察系統高分辨、彩色、實時CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。雷射輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
7計算機系統配置IBM計算機：1.6G奔騰IV處理器，256M記憶體，1.44M軟碟機，40G硬碟，CD-ROM，滑鼠，鍵盤，17寸彩顯，56K數據機。惠普或愛普生彩色噴墨印表機。
8分析套用軟體作業系統：Windows2000中文平台中文分析軟體包：SmartLinkFP軟體包
套用範圍
－測厚範圍可測定厚度範圍：取決於您的具體套用。請告訴牛津儀器您的具體套用，我們將列表可測定的厚度範圍－基本分析功能無標樣檢量線測厚，可採用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。牛津儀器將根據您的套用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類：鍍層、塗層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素範圍：Ti22–U92可同時測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時，可同時測定15種元素多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析－調整和校正功能系統自動調整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統漂移譜峰計數時，峰漂移自動校正功能譜峰死時間自動校正功能譜峰脈衝堆積自動剔除功能標準樣品和實測樣品間，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計算－測量自動化功能(要求XY程控機構)滑鼠激活測量模式：“PointandShoot”多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重複測量模式測量位置預覽功能雷射對焦和自動對焦功能－樣品台程控功能(要求XY程控機構)設定測量點OneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測量位置預覽(圖表顯示)
－統計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動範圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖數據分組、X-bar/R圖表直方圖資料庫存儲功能
－系統安全監測功能Z軸保護感測器樣品室門開閉感測器作業系統多級密碼作業系統：操作員、分析員、工程師－任選軟體統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量材料鑑別和分類檢測材料和合金元素分析貴金屬檢測，如Aukarat評價
