X射線螢光法

X射線螢光法是用，照射待測樣品，使受激元素產生二次特徵X射線（即螢光），使用X射線螢光儀測量並記錄樣品中待測元素的特徵X射線照射量率，從而確定樣品的成分和目標元素含量的方法。

基本介紹

• 中文名：X射線螢光法
• 外文名：X-ray fluorescence radioisotope
• 激發源：放射性同位素
• 學科：核地質學

詞目：X射線螢光法

釋文：方法的特點是操作簡單，速度快，可以進行原位測量，在現場獲得目標元素的含量；劃分礦與非礦的界限，代替或部分代替刻槽取樣。放射性同位素X射線螢光測井和海底X射線螢光測量，也得到了很大的發展。