| 中文名稱 | X射線螢光譜法 |
| 英文名稱 | X-ray fluorescence spectroscopy |
| 定 義 | 利用元素特徵X射線譜進行元素成分及含量分析的一種方法。從每種元素激發出的X射線特徵(螢光)譜線都有其特徵波長值，其峰值強度與該元素在材料中的含量有關。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
| 中文名稱 | X射線螢光譜法 |
| 英文名稱 | X-ray fluorescence spectroscopy |
| 定 義 | 利用元素特徵X射線譜進行元素成分及含量分析的一種方法。從每種元素激發出的X射線特徵(螢光)譜線都有其特徵波長值，其峰值強度與該元素在材料中的含量有關。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
躍遷,而在內層電子軌道上留下一個空穴,處於高能態的外層電子跳回低能態的空穴,將過剩的能量以X射線的形式放出,所產生的X射線即為代表各元素特徵的X射線螢光譜線...
中文名稱 X射線螢光譜法 英文名稱 X-ray fluorescence spectroscopy 定義 利用元素特徵X射線譜進行元素成分及含量分析的一種方法。從每種元素激發出的X射線特徵(...
能量色散x射線螢光光譜法nergy-dispersive x-raylZuorescence spectrometry根據元素輻射x射線螢光光子能量不同,經探測器接收後用脈衝高度分析器區別,進行元素鑑定;根據...
X射線螢光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線...
X射終分射尖譜法又稱X 射線螢光光語法(x oyf知。淤。ence、pect:傭Le、ry、二以爾馭 X射線作為激發方式的發射光譜分析方法‘,試樣物質經原級 X射線照射,...
利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同,分為X射線...
波長色散x射線螢光光譜法wavelength-}isl3ersi}c Y-rayIluoreacenc} sperrrnmeuy X射線照射試樣激發產生各種波長的光,通過晶體衍射進行空間色散,分別測量不同波長...
X射線螢光分析法(X-ray fluorescence analysis),嗓子對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的螢光X射線被已知高點陣...
《X射線螢光光譜的基本參數法》是2010-11-01上海科學技術出版社出版的圖書,作者是卓尚軍。...
X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的...
《X射線螢光光譜分析》是2003年科學出版社出版的圖書,作者是吉昂。...... 書中重點論述了波長色散和能量色散X射線螢光光譜所涉及的基本理論和實驗技術、理論強度計算...
釋文:實驗室型偏振X射線激發EDXRF光譜分析技術是20世紀術發展起來的新的多元素主、次、痕量元素分析技術。它一般採用X射線管源和半導體探測器。X射線管產生的X射線...
根據物質中各元素所輻射的特徵X射線譜的波長和強度,來測定元素成分的分析方法。用高速電子流轟擊原子內層電子,並產生電子躍遷,使其發生特徵X射線,通過波長色散或能量...
順序式X射線螢光光譜儀,成份分析儀器,主要用於各種岩礦和建材的分析。...... 順序式X射線螢光光譜儀,成份分析儀器,主要用於各種岩礦和建材的分析。中文名 順序式X...
《X射線螢光光譜儀》是2008年化學工業出版社出版的圖書,作者是羅立強、詹秀春。...... 《X射線螢光光譜儀》是2008年化學工業出版社出版的圖書,作者是羅立強、詹秀春...
X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品。...
X射線光電子能譜技術(XPS)是電子材料 與元器件顯微分析中的一種先進分析技術,而且是和俄歇電子能譜技術(AES)常常配合使用的分析技術。由於它可以比俄歇電子能譜...
《X射線螢光光譜法黃金含量分析儀校準規範(JJF 1133-2005)》為中華人民共和國國家計量技術規範JJF1133—2005。本標準是由國家質量監督檢驗檢疫總局發布的。本標準是...
X射線檢測是利用X射線技術觀察、研究和檢驗材料微觀結構、化學組成、表面或內部結構缺陷的實驗技術。如X射線粉末衍射術、X射線螢光譜法、X射線照相術、X射線形貌術...
X射線螢光分析儀誕生至今,已發展到第三代。X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療...
X射線分析(X-ray Analysis)是指以X射線為輻射源的分析方法統稱。主要包括X射線吸收法、X射線螢光法、X射線衍射法等。其中用於成分分析的X射線螢光法和用於結構...
定義 用於測量螢光X射線的X射線光譜儀。 套用學科 機械工程(一級學科),分析儀器(二級學科),能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附屬檔案(三級學科) 以上內容...
螢光x射線分析是x射線發射光譜分析方法之一。當試樣受到高能量的入射線轟擊時,其中各組分元素的原子受到激發而產生次級的特徵x射線,即為螢光x射線。...