螢光Ⅹ射線分析(螢光Ⅹ射線分析)

螢光Ⅹ射線分析(螢光Ⅹ射線分析)

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螢光X射線分析又稱X射線次級發射光譜分析。本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特徵X射線(X光螢光)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。

歷史,套用,

歷史

1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)製成第一台波長色散X射線螢光分析儀,至60年代本法在分析領域的地位得以確立。

套用

現代X射線螢光光譜分析儀由以下幾部分組成:X射線發生器(X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統(分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統(脈衝輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器)。不同元素具有波長不同的特徵X射線譜,而各譜線的螢光強度又與元素的濃度呈一定關係,測定待測元素特徵X射線譜線的波長和強度就可以進行定性和定量分析。本法具有譜線簡單、分析速度快、測量元素多、能進行多元素同時分析等優點,是目前大氣顆粒物元素分析中廣泛套用的三大分析手段之一(其他兩方法為中子活化分析和質子螢光分析)。

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