釋文：實驗室型偏振X射線激發EDXRF光譜分析技術是20世紀術發展起來的新的多元素主、次、痕量元素分析技術。它一般採用X射線管源和半導體探測器。X射線管產生的X射線經偏振靶偏振後，再作為激發光源照射到樣品上。在儀器結構上由樣品和探測器、偏振靶和樣品、X射線管和偏振靶連成的三條軸線，分別位於笛卡兒坐標系的x、y、z軸向上。這種幾何構成可以大幅度降低彈性和非彈性散射X光子造成的探測本底，從而提高信/背比，降低檢出限。同時偏振激發源還具有一定的選擇激發效應。其突出優點是主、次、痕量多元素快速分析能力，可分析鈉至鈾的所有元素。固體樣品中原子序數在26～56之間的元素檢出限一般在1×10^-6克/克以下。該項技術已套用於地學、環境、石油、化工等許多領域的分析。
基本介紹
- 中文名：偏振激發X射線螢光光譜法
- 外文名：polarized energy Xһ dispersiveray fluorescence spectrometry
- 學科：岩礦分析與鑑定
- 簡稱：EDXRF
學科：岩礦分析與鑑定
詞目：偏振激發X射線螢光光譜法
英文：polarized energy Xһ dispersiveray fluorescence spectrometry(EDXRF)
