X螢光光譜儀-Axios是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2012年5月22日啟用。
基本介紹
- 中文名:X螢光光譜儀-Axios
- 產地:荷蘭
- 學科領域:地球科學
- 啟用日期:2012年5月22日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
X螢光光譜儀-Axios是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2012年5月22日啟用。
X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X螢光(二次X射線),探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的...
X-螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2009年5月1日啟用。技術指標 檢測元素範圍:O~U (Be~N需另外配置分光晶體);測量範圍ppm~100%;檢測器:流氣正比探測器和閃爍探測器;長期穩定性:0.04%。主要...
X射線螢光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析和...
根據色散方式不同,X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀(波長色散)和X射線螢光能譜儀(能量色散)。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀...
螢光光譜儀簡介 結構 由光源、激發光源、發射光源、試樣池、檢測器、顯示裝置等組成。分類 螢光光譜儀可分為X射線螢光光譜儀和分子螢光光譜儀。原理 主要用途 1.螢光激發光譜和螢光發射光譜 2.同步螢光(波長和能量)掃描光譜 3.3D(Ex...
X射線螢光分析儀誕生以來,已發展到第三代。X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學...
手持式X螢光光譜儀是是為野外、現場X螢光分析套用專門開發的儀器,可套用於各類地質礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究,有長時間工作、輕巧方便等優點。儀器簡介 手持式能量色散分析儀,是為野外、現場X螢光分析套用專門開發的...
X射線螢光發射光譜儀 用於測量螢光X射線的X射線光譜儀。
《X射線螢光光譜儀》是2008年化學工業出版社出版的圖書,作者是羅立強、詹秀春。內容簡介 本書分十二章介紹了X射線螢光光譜分析的原理,儀器主要部件,定性與定量分析方法,基體校正與數據處理方法,樣品製備技術,具有共性的儀器校正方法、...
隨著電子技術和計算機的飛速發展,x 射線螢光光譜儀和X 射線螢光分析技術及其計算機軟體的不斷開發,X 射線螢光光譜儀現已由單一的波長色散 X 射線螢光光譜儀發展成擁有波長色散、能量色散、電子探針、全反射、同步輻射和質子 X 射線光譜...
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線),從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
日本理學X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2004年12月1日啟用。技術指標 2θ角15°193°,RSD小於0.5%。主要功能 金屬材料/陶瓷/玻璃/土壤/礦物中的元素定性可測元素B~U範圍內的所有元素。RSD<1%,最大功率4KW,...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀,靶材及功率:Rh靶 4kW,可以對5B到92U進行快速定性、定量分析,元素的檢量範圍0.0001%~...
波長色散X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2007年4月3日啟用。技術指標 超銳端窗Rh靶X光管,最大功率可達4kW(60kV,125mA)的高壓發生器;晶體 8塊,覆蓋了程式中必須使用的所有波長;測角儀: 2θ角準確度0.0025...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差:Cd:7.7%;儀器測量重複性: Cd:1.5%;線性誤差的擴展不確定度:U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
能量色散X螢光光譜儀是一種用於材料科學、考古學領域的分析儀器,於2008年09月01日啟用。技術指標 樣品室尺寸:700mm*700mm*700mm X光管最大功率:50KV,1.0mA 光斑尺寸:300um。主要功能 陶瓷及原料化學組成檢測。
能量色散偏振光X螢光光譜儀 能量色散偏振光X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2007年10月5日啟用。技術指標 檢出限<1PPM 精密度<1%。主要功能 無損樣品分析,標物均勻性檢驗.。
波長型X螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2015年4月10日啟用。技術指標 測量元素:O-U,B單通道;含量範圍:ppm-100%;B可測到500ppm;光管最大功率:4kW;高壓發生器最大功率:4kW。主要功能 能夠...
波長色散型X螢光光譜儀是一種用於化學工程、材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年10月1日啟用。技術指標 可以對4Be到92U進行定性、定量分析;可以分析材料的狀態包括:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品;採用新光學...
X射線式螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年11月1日啟用。技術指標 S8 Tiger分析元素範圍:O8—U92 S8 Tiger分析含量範圍:0.1ppm到100% 高壓發生器: S8 Tiger最大功率≥4kW;最大電壓≥60kV,20-60 kV 間 1 ...
X螢光光譜測量系統是一種用於地球科學、材料科學、核科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2010年11月9日啟用。技術指標 ≥500道,4KW,160mA/60KV。主要功能 對礦物樣品、合金樣品、土壤樣品、等固體樣品以及液體樣品...
X-RAY螢光譜儀是一種用於生物學、化學、物理學、農學領域的分析儀器,於2016年12月14日啟用。技術指標 X-Ray tube功率:3KW;鈹窗厚度:75um;檢出線:2ppm;測量範圍2ppm—100%;分析樣:粉末樣和熔融樣;分析元素:理論Be~U(具體...
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器,配0.23°,0.46°兩個準直器; 自動進樣器:60位X-Y二維全自動機器人進樣器; 高壓發生器: 穩定性:外電源波動±1%...
波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器,於2006年06月09日啟用。技術指標 RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件, Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在...
全反射X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年11月28日啟用。技術指標 可分析元素範圍:Al~U(靶元素和與靶元素干擾嚴重的元素除外) 濃度範圍:10-9~100% 檢出限:Ni≤2pg 激發源:最大功率≥30W;最大激發...
波長色散式X射線螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2012年10月23日啟用。技術指標 布拉格角範圍:13到98度28波 分析晶體:氟化鋰200,可選其他晶體 元素範圍:Kα 22-48(鈦到銀) 元素範圍:Lα 56-...
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器,於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW,穩定度±0.0005%,測角儀角度準確度≤±0.001°;角度重複性≤±0.0001°分光晶體:LiF(200),PET,XS55,LiF(220),Ge晶體,測試範圍...
高性能微區X螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年12月9日啟用。技術指標 a. 成套的高分辨的µ-XRF,能滿足元素Na11-U92的成分分析; b. 12層薄膜和基體的多層薄膜分析功能; c. ※高分辨元素分布成像,像素...
多道X射線螢光光譜儀是一種用於交通運輸工程領域的分析儀器,於2011年12月13日啟用。技術指標 可同時無損分析36種元素,分析範圍4Be~92U。主要功能 能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量,具有靈敏度高、精度好、性能穩定、分析...