X螢光光譜測量系統是一種用於地球科學、材料科學、核科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2010年11月9日啟用。
X螢光光譜測量系統是一種用於地球科學、材料科學、核科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2010年11月9日啟用。技術指標≥500道，4KW,160mA/60KV。1主要功能對礦物樣品、合金樣品、土壤樣品...
螢光光譜測量系統是一種用於信息科學與系統科學、物理學、生物學領域的科學儀器，於2010年8月26日啟用。技術指標 光譜範圍380-780nm 光譜頻寬8nm（半波寬） 光譜精度？2nm 波長解析度＜3.5nm/象素 發光亮度精度？4% 2856K@23℃ ...
X螢光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長...
螢光光譜儀可分為X射線螢光光譜儀和分子螢光光譜儀。原理 主要用途 1.螢光激發光譜和螢光發射光譜 2.同步螢光（波長和能量）掃描光譜 3.3D（Ex Em Intensity）4.Time Base和CWA（固定波長單點測量）5.螢光壽命測量，包括壽命分辨及...
現代X射線螢光光譜分析儀由以下幾部分組成：X射線發生器（X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置）、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器）、記數記錄系統（脈衝輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器）。不同元素具有波長不同的...
X射線螢光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析和...
X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測，對產品和材料質量進行無損檢測，對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段，也是材料科學、生命科學、環境科學等普遍採用的一種快速、準確...
X射線螢光光譜儀由以下幾部分組成：X射線發生器（X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置）、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器）、記數記錄系統（脈衝輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器）。不同元素具有波長不同的特徵X射線...
X射線螢光分析儀是通過X射線管產生的X射線作為雷射源，激發樣品產生螢光X射線。根據螢光X射線的波長和強度來確定樣品的化學組成。簡介 該儀器通常能夠一次性檢測出多達25多種礦石及金屬元素，具體包括：Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni,...
波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器，於2006年06月09日啟用。技術指標 RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件， Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在...
手持式能量色散分析儀，是為野外、現場X螢光分析套用專門開發的儀器類型。具有體積小、重量輕通人可手持測量的特點。它包括有害元素分析儀，合金牌號分析儀、土壤分析儀、貴金屬分析儀和礦石分析儀等一系列專業型號，其中手持式能量色散礦石...
X螢光光譜儀EDX1800B是眾和儀器最新推出，針對EDX1800B在各個領域的廣泛套用。性能優勢 下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的套用 移動平台：精細的手動移動...
產品以光電倍增管等光探測器在不同波長位置，測量譜線強度的裝置。其構造由一個入射狹縫，一個色散系統，一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。光譜測金儀是光譜分析儀器的一個分支種類，多套用在首飾製造、礦山開採、珠寶回收、珠寶...
X螢光光譜儀-Axios是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2012年5月22日啟用。技術指標 可分析F-U間元素：常量(%)-微量(ppmm)，精密度(主、次量元素)RSD%:0.1-1.0。計數線性：SC為1500kcps，FPC為3000kcps。動態長期穩定性：0....
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年5月5日啟用。技術指標 Ｘ射線管靶： 銠靶（Rｈ） Ｘ射線管壓： 60ＫＶ（Ｍａｘ） Ｘ射線管壓： 150ｍA（Mａｘ）檢測元素範圍：19F...
X-螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2009年5月1日啟用。技術指標 檢測元素範圍：O～U (Be～N需另外配置分光晶體)；測量範圍ppm～100%;檢測器：流氣正比探測器和閃爍探測器；長期穩定性：0.04%。主要...
可以分析材料的狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。 對應超輕元素的X射線光管 採用4kW、30µm薄窗X射線光管，可高靈敏度測試超輕元素。 採用新型光學系統 採用新型分光晶體，與第二代儀器分光晶體相比，大幅度提高了靈敏度。 48...
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器，於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW，穩定度±0.0005%，測角儀角度準確度≤±0.001°；角度重複性≤±0.0001°分光晶體：LiF(200)，PET，XS55，LiF(220)，Ge晶體，測試範圍...
X射線螢光光譜儀Axiosmax是一種用於地球科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2016年11月2日啟用。技術指標 1.允許元素分析範圍：Be（4）－U（92） 2. 測角儀重現性：0.0001度。主要功能 （1）樣品中不同元素的定性...
主要功能 鉻、鈷、銅、金、鐵、鉛、鋰、錳、汞、鉬、鎳、、鉑、銀、釷、鈦、鎢、鈾、釩、鋅、鋯 以安全的輻射標準（CRF標準）耐用的光學系統，簡便的元素選擇操作，強大靈活的測量功能、成為金屬元素定量定性的最好分析工具。
順序式X射線螢光光譜儀，成份分析儀器，主要用於各種岩礦和建材的分析。主要用途 分析元素範圍：F-U;分析含量範圍：微量（ppm）一常量（%）主要用於各種岩礦和建材的分析，如：矽酸鹽、矽鋁酸鹽、碳酸鹽、磷灰石、鋁土礦、水泥、陶瓷、...
全自動掃描型波長色散X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2013年12月11日啟用。技術指標 用於入廠原輔材料檢驗；建有10條常用工作曲線；B（5）-U（92）大部分元素0.000x%--100%；2θ角準確度0.0025°；2θ角重複性0....
單波長色散X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年10月28日啟用。技術指標 符合ASTM 7039，GB/T 11140和SH/T 0842標準要求，硫重複性0.8 ppm (2ppm), 1.8 ppm (10ppm), 12.4 ppm (500ppm); 檢測範圍0....
能量色散偏振光X螢光光譜儀 能量色散偏振光X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2007年10月5日啟用。技術指標 檢出限＜1PPM 精密度＜1%。主要功能 無損樣品分析,標物均勻性檢驗.。
現代X射線螢光光譜分析儀由以下幾部分組成：X射線發生器（X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置）、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器）、記數記錄系統（脈衝輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器）。不同元素具有波長不同的...
X射線螢光發射光譜儀 用於測量螢光X射線的X射線光譜儀。
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀，靶材及功率：Rh靶 4kW，可以對5B到92U進行快速定性、定量分析，元素的檢量範圍0.0001%~...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒；角度準確度優於±0.001°，角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測，具有...
5．微機分析系統 A．高級名牌商用機；B．19寸高解析度彩色液晶顯示器；C. HP雷射印表機。6．軟體 A．操作：WINDOS XP作業系統軟體，，使用方便。B．功能：能譜顯示，分析元素設定，能量刻度，X光管高壓、電流自動控制，樣品盤自動旋轉...
