X螢光光譜儀-Axios是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2012年5月22日啟用。
X螢光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X螢光（二次X射線），探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的...
X射線螢光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析和...
X-螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2009年5月1日啟用。技術指標 檢測元素範圍：O～U (Be～N需另外配置分光晶體)；測量範圍ppm～100%;檢測器：流氣正比探測器和閃爍探測器；長期穩定性：0.04%。主要...
《X射線螢光光譜儀》是2008年化學工業出版社出版的圖書，作者是羅立強、詹秀春。內容簡介 本書分十二章介紹了X射線螢光光譜分析的原理，儀器主要部件，定性與定量分析方法，基體校正與數據處理方法，樣品製備技術，具有共性的儀器校正方法、...
螢光光譜儀簡介 結構 由光源、激發光源、發射光源、試樣池、檢測器、顯示裝置等組成。分類 螢光光譜儀可分為X射線螢光光譜儀和分子螢光光譜儀。原理 主要用途 1.螢光激發光譜和螢光發射光譜 2.同步螢光（波長和能量）掃描光譜 3.3D（Ex...
根據色散方式不同，X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀（波長色散）和X射線螢光能譜儀（能量色散）。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀...
X射線螢光分析儀誕生以來，已發展到第三代。X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學...
能量色散X螢光光譜儀是一種用於材料科學、考古學領域的分析儀器，於2008年09月01日啟用。技術指標 樣品室尺寸：700mm*700mm*700mm X光管最大功率：50KV，1.0mA 光斑尺寸：300um。主要功能 陶瓷及原料化學組成檢測。
波長型X螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2015年4月10日啟用。技術指標 測量元素：O-U，B單通道；含量範圍：ppm-100%；B可測到500ppm；光管最大功率：4kW；高壓發生器最大功率：4kW。主要功能 能夠...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差：Cd：7.7%；儀器測量重複性： Cd：1.5%；線性誤差的擴展不確定度：U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器，於2006年06月09日啟用。技術指標 RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件， Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在...
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生螢光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
手持式X螢光光譜儀是是為野外、現場X螢光分析套用專門開發的儀器，可套用於各類地質礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究，有長時間工作、輕巧方便等優點。儀器簡介 手持式能量色散分析儀，是為野外、現場X螢光分析套用專門開發的...
隨著電子技術和計算機的飛速發展，x 射線螢光光譜儀和X 射線螢光分析技術及其計算機軟體的不斷開發，X 射線螢光光譜儀現已由單一的波長色散 X 射線螢光光譜儀發展成擁有波長色散、能量色散、電子探針、全反射、同步輻射和質子 X 射線光譜...
岩芯掃描X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2012年3月8日啟用。技術指標 可測量長度：小於等於1750mm，口徑介於30-120mm，最高測量解析度0.1mm，可測量元素範圍：Al-U之間的108種元素。主要功能 掃描岩芯中化學元素成分...
X射線螢光發射光譜儀 用於測量螢光X射線的X射線光譜儀。
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器，於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW，穩定度±0.0005%，測角儀角度準確度≤±0.001°；角度重複性≤±0.0001°分光晶體：LiF(200)，PET，XS55，LiF(220)，Ge晶體，測試範圍...
X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2015年5月1日啟用。技術指標 懸浮顆粒物過濾器 符合 RoHS 及 WEEE 的分析 法醫及痕量分析 營養補充劑 磁性介質和半導體 土壤污染 過濾...
高性能微區X螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2017年12月9日啟用。技術指標 a． 成套的高分辨的µ-XRF，能滿足元素Na11-U92的成分分析； b． 12層薄膜和基體的多層薄膜分析功能； c． ※高分辨元素分布成像，像素...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀，靶材及功率：Rh靶 4kW，可以對5B到92U進行快速定性、定量分析，元素的檢量範圍0.0001%~...
微區X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2015年7月1日啟用。技術指標 樣品台行程：270 mm x 270 mm x 100 mm，承載5 kg樣品台精度： ±2 μm（XY軸）， ±10 μm（Z軸）；10倍率和70倍率CCD放大。主要功能 主要...
能量色散X螢光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於2015年4月13日啟用。技術指標 1、套用分析元素範圍： Na – U 具有一次采譜選擇多達8種的分析條件，可分別或同時設定，最佳化不同能量段元素的采譜條件。並可合併計算給出多元素...
波長色散型X螢光光譜儀是一種用於化學工程、材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器，於2012年10月1日啟用。技術指標 可以對4Be到92U進行定性、定量分析；可以分析材料的狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品；採用新光學...
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器，配0.23°,0.46°兩個準直器； 自動進樣器：60位X-Y二維全自動機器人進樣器； 高壓發生器： 穩定性：外電源波動±1%...
能量色散X射線螢光光譜儀是使用小功率x射線管激發和簡單的分光系統的光譜儀。工作原理 能量色散x射線螢光光譜儀energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脈衝高度分析器進行能量色散的x射線螢光光譜儀公與波長色散x射線螢光...
波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、食品科學技術領域的分析儀器，於2008年12月23日啟用。技術指標 最大功率3.6KV；0～60KV間，1KV連續可調；高壓發生器輸出穩定度±0.0001％；12位自動進樣器；下照式，六塊晶體。主要功能 ...
《X射線螢光光譜儀測定頁岩中主微量元素的方法研究》是由重慶地質礦產研究院擔任第一完成單位，由車平平、劉代喜、翁代群、欒進華、李金平、龔舟、楊清華、楊潔、萬煌欽為主要完成人的科研項目。成果信息 成果摘要 項目以頁岩為研究對象...
能量色散偏振X射線螢光光譜儀是一種用於化學、礦山工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年9月15日啟用。技術指標 X光管功率：50W 高壓：60KV 分析含量範圍：ppm(亞ppb)級-100% 檢測系統-能量解析度小於或等於155...
圖譜分析 採用X-射線螢光光譜儀、直讀光譜儀、裂解-氣相色譜-質譜聯用儀、氣相色譜等設備通過譜圖對產品所含有的成分進行定性和定量的一種分析方法。十二、X-射線螢光光譜儀 儀器產地：荷蘭 型號規格： Axios 可用於電子﹑磁性材料、...
