高性能微區X螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2017年12月9日啟用。
X螢光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X螢光（二次X射線），探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的...
x射線螢光光譜儀 主要用途 儀器是較新型X射線螢光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用於煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃...
X射線螢光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分...
X-螢光儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2012年5月30日啟用。技術指標 分析精度高。 可以對4Be到92U進行定性、定量分析。 元素的檢量範圍從0.0001% ~ 100%，如進行前處理，可以再下降2 ~ 3個數量級。 可以分析材料的狀態包括...
X螢光光譜儀EDX1800B是眾和儀器最新推出，針對EDX1800B在各個領域的廣泛套用。性能優勢 下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的套用 移動平台：精細的手動移動...
同時樣品受激發後發射某一元素的特徵X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。因此，X射線螢光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。為了滿足現代企業管理和生產要求...
X射線螢光分析儀是通過X射線管產生的X射線作為雷射源，激發樣品產生螢光X射線。根據螢光X射線的波長和強度來確定樣品的化學組成。簡介 該儀器通常能夠一次性檢測出多達25多種礦石及金屬元素，具體包括：Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni,...
X射線螢光光譜儀92SA X射線螢光光譜儀92SA是一種用於化學領域的分析儀器，於2010年8月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%； 設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
X射線螢光顯微分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2005年6月8日啟用。技術指標 分析元素Na-U，能量解析度FWHM＜150eV，最大可分析樣品400mm×350mm×150mm，X射線束徑10um、100um。主要功能 材料分析，微區成分分析，光學圖像...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差：Cd：7.7%；儀器測量重複性： Cd：1.5%；線性誤差的擴展不確定度：U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
X射線螢光光譜儀Axiosmax是一種用於地球科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2016年11月2日啟用。技術指標 1.允許元素分析範圍：Be（4）－U（92） 2. 測角儀重現性：0.0001度。主要功能 （1）樣品中不同元素的定性...
X射線式螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年11月1日啟用。技術指標 S8 Tiger分析元素範圍：O8—U92 S8 Tiger分析含量範圍：0.1ppm到100% 高壓發生器： S8 Tiger最大功率≥4kW；最大電壓≥60kV，20-60 kV 間 1 ...
日本理學X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2004年12月1日啟用。技術指標 ２θ角１５°193°,RSD小於0.5%。主要功能 金屬材料／陶瓷／玻璃／土壤／礦物中的元素定性可測元素B～U範圍內的所有元素。RSD＜1%，最大功率4KW，...
手持式X螢光光譜儀是是為野外、現場X螢光分析套用專門開發的儀器，可套用於各類地質礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究，有長時間工作、輕巧方便等優點。儀器簡介 手持式能量色散分析儀，是為野外、現場X螢光分析套用專門開發的...
利用脈衝高度分析器進行能量色散的x射線螢光光譜儀公與波長色散x射線螢光光譜儀相比，它的結構簡單。可使用小功率x射線管激發和簡單的分光系統。採用半導體探測器和多道脈衝高度分析器可提高分辨本領，由微處理機處理，可同時惻定試樣中}o...
2、台式X射線螢光光譜儀對元素周期表上氟（F）及其以後的元素給出準確、精密和可靠的結果，它們的性能可以與體積更大、功能更強的光譜儀相媲美，有些情況下甚至可以超越它們。3、台式X射線螢光光譜儀通過在激發和探測技術上的革新後，...
超級X螢光光譜儀 超級X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年11月17日啟用。技術指標 元素分析範圍從硫（S）到鈾（U）。分析含量一般為0.1ppm到99.9％。主要功能 材料分析。
顯微螢光光譜儀 顯微螢光光譜儀是一種用於材料科學、化學、物理學領域的分析儀器，於2015年12月29日啟用。技術指標 空間解析度2m，時間解析度1ns，波長範圍200-900 nm。主要功能 測試材料的微區發光光譜及發光壽命。
波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器，於2006年06月09日啟用。技術指標 RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件， Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在...
X射線螢光發射光譜儀 用於測量螢光X射線的X射線光譜儀。
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生螢光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
波長色散X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2007年4月3日啟用。技術指標 超銳端窗Rh靶X光管，最大功率可達4kW（60kV，125mA）的高壓發生器；晶體 8塊，覆蓋了程式中必須使用的所有波長；測角儀: 2θ角準確度0.0025...
性能特點 ◎ 高靈敏度---自動切換4種濾光片 在測定微量成分時，由於X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特徵譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此螢光分析儀...
1、實時性：國內的X螢光分析儀絕大多數都是“離線”的實驗室分析儀。極個別的套用到現場的也是“旁線”式的儀表，須經過取樣、烘乾、篩分、研磨、制樣等一系列繁雜的樣品前處理過程，幾個小時之後才能得到分析結果，數據結果有很大的...
波長色散式X射線螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2012年10月23日啟用。技術指標 布拉格角範圍：13到98度28波 分析晶體：氟化鋰200，可選其他晶體 元素範圍：Kα 22-48（鈦到銀） 元素範圍：Lα 56-...
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器，配0.23°,0.46°兩個準直器； 自動進樣器：60位X-Y二維全自動機器人進樣器； 高壓發生器： 穩定性：外電源波動±1%...
