掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2008年11月15日啟用。
基本介紹
- 中文名：掃描性X射線螢光光譜儀
- 產地：德國
- 學科領域：化學
- 啟用日期：2008年11月15日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
技術指標,主要功能,
技術指標
四位準直器交換器，配0.23°,0.46°兩個準直器； 自動進樣器：60位X-Y二維全自動機器人進樣器； 高壓發生器： 穩定性：外電源波動±1%時，輸出波動為≤±0.0005%； X射線光管： 類型：端窗Rh靶陶瓷光管, Be窗厚度75μm； 光學編碼器測角儀： 角度再現精度：優於±0.0001°； 定位方式：θ/2θ分別驅動，光學定位； 真空封檔： 測量液體及鬆散粉末樣品時，在樣品室與光譜室間插入一程式控制的高透光性真空封擋, 使只有樣品室沖洗氦氣，光譜室始終保持真空狀態。 真空/氦氣，氦氣/真空 切換時間＜2 分鐘； 氦氣耗量≤20升/小時； DIN 54113射線防護認證，劑量標準＜0.2μSv/h 330022。
主要功能
任何類型樣品中Na～U的全元素分析，在固體樣品中B、 C、N、 O 、F的分析，0.X （ppm）- 100%，可對金屬材料、非金屬材料、玻璃熔珠樣品、快狀樣品、粉末壓片樣品、鬆散粉末樣品及液體樣品進行定性、定量及無標樣分析。
