X-射線螢光岩芯掃瞄器

X-射線螢光岩芯掃瞄器是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2015年9月7日啟用。

基本介紹

• 中文名：X-射線螢光岩芯掃瞄器
• 產地：荷蘭
• 學科領域：地球科學
• 啟用日期：2015年9月7日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀

技術指標

彩色線性分析，曝光時間：10.0ms；元素組分分析：步長：0.1mm，1mm，2mm；磁化率測試：步長：2mm。

主要功能

沉積物柱的彩色線性分析、磁化率及其元素組成測試；另外針對硨磲樣品進行彩色線性分析、元素組成測試。