X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器,於2010年11月8日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線螢光光譜
- 產地:德國
- 學科領域:農學
- 啟用日期:2010年11月8日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器,於2010年11月8日啟用。
根據色散方式不同,X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀(波長色散)和X射線螢光能譜儀(能量色散)。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀...
X射線螢光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析...
只要測出一系列X射線螢光譜線的波長,即能確定元素的種類;測得譜線強度並與標準樣品比較,即可確定該元素的含量。由此建立了X射線螢光光譜 (XRF)分析法。簡介 是介於原子發射光譜(AES)和原子吸收光譜(AAS)之間的光譜分析技術。基本...
1923年,瑞典的赫維西(G von Hevesy)提出了套用X射線螢光光譜進行定量分析,但由於受到當時探測技術水平的限制,該法並未得到實際套用,直到20世紀40年代後期,隨著X射線管、分光技術和半導體探測器技術的改進,X螢光分析技術才進入快速...
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器,於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW,穩定度±0.0005%,測角儀角度準確度≤±0.001°;角度重複性≤±0.0001°分光晶體:LiF(200),PET,XS55,LiF(220),Ge晶體,測試...
X射線式螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年11月1日啟用。技術指標 S8 Tiger分析元素範圍:O8—U92 S8 Tiger分析含量範圍:0.1ppm到100% 高壓發生器: S8 Tiger最大功率≥4kW;最大電壓≥60kV,20-60 kV 間 1 ...
X射線螢光分析法(X-ray fluorescence analysis),是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的螢光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得螢光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性...
X射線螢光光譜儀92SA X射線螢光光譜儀92SA是一種用於化學領域的分析儀器,於2010年8月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%; 設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年5月5日啟用。技術指標 X射線管靶: 銠靶(Rh) X射線管壓: 60KV(Max) X射線管壓: 150mA(Max)檢測元素範圍:19F...
波長色散x射線螢光光譜法wavelength-}isl3ersi}c Y-rayIluoreacenc} sperrrnmeuy X射線照射試樣激發產生各種波長的光,通過晶體衍射進行空間色散,分別測量不同波長的x射線分析線峰值強度,進行定性和定量分析的方法。適用於原子序數4(...
X射線螢光分析儀誕生至今,已發展到第三代。X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學...
X射線螢光光譜分析法,利用原級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。在成分分析方面,X射線螢光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。簡史 20世紀20年代...
螢光x射線分析是x射線發射光譜分析方法之一。當試樣受到高能量的入射線轟擊時,其中各組分元素的原子受到激發而產生次級的特徵x射線,即為螢光x射線。簡介 螢光x射線分析即X射線螢光光譜分析,不同元素具有波長不同的特徵螢光x射線譜線...
順序式X射線螢光光譜是一種用於物理學、化學、地球科學、生物學領域的分析儀器,於2004年1月1日啟用。技術指標 下照射,最大發射功率4.2KW。最大激發電壓:70KV,最大激發電流:140MA。可對固體、粉末樣品進行定性、定量分析(分析元素...
能量色散x射線螢光光譜法nergy-dispersive x-raylZuorescence spectrometry根據元素輻射x射線螢光光子能量不同,經探測器接收後用脈衝高度分析器區別,進行元素鑑定;根據分析線脈衝高度分布的積分強度.進行元素定量的分析方法。套用 適用於原子...
《X射線螢光光譜分析(第二版)》是2015年5月化學工業出版社出版的圖書,作者是羅立強、詹秀春、李國會。內容簡介 《X射線螢光光譜分析(第二版)》系統闡述了X射線螢光光譜分析(XRFS)基本原理,介紹了XRFS光譜儀及主要組成部件,特別...
台式X射線螢光光譜儀有比攜帶型光譜儀更高的解析度,通過在激發和探測技術上的革新,其對元素的定性和定量分析可以和大型落地式光譜儀相媲美,且其小巧的體積及簡單的安裝要求使其具有廣泛的套用前景。簡介 X射線螢光分析是確定物質中元素...
《X射線螢光光譜的基本參數法》是2010年上海科學技術出版社出版的圖書,作者是卓尚軍。內容簡介 《X射線螢光光譜的基本參數法》是X射線螢光光譜分析領域專門講述基本參數法的第一本書。書中,作者結合自己的研究成果和實踐經驗,系統而詳細...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差:Cd:7.7%;儀器測量重複性: Cd:1.5%;線性誤差的擴展不確定度:U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
全反射X射線螢光光譜法(total reflection X-ray fluorescence spectrometry)是2016年公布的化學名詞。定義 初級X射線束以低於或接近於全反射臨界角投射到反射體經全反射後投射到樣品,激發分析元素髮射的特徵X射線螢光為垂直放置的Si(Li)...
X射線螢光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年12月1日啟用。技術指標 X射線光管陽極材料:銠靶 最大功率:4kW 最大額定電壓:60kV 最大額定電流:160mA 樣品最大尺寸:直徑51.5mm,高40mm 分析腔體溫度:30±0.05℃...
X射線螢光光譜岩芯掃描系統 X射線螢光光譜岩芯掃描系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年5月1日啟用。技術指標 MSCL-XRF。主要功能 科研用,測試樣品各項參數。
X射線螢光光譜儀制樣設備 X射線螢光光譜儀制樣設備是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2016年11月18日啟用。技術指標 40噸壓片機和六頭電熱熔融爐。主要功能 樣品製備。
同步輻射X射線螢光分析(synchrotron radiation X-ray fluorescence analysis)是2016年公布的化學名詞。中文名 同步輻射X射線螢光分析 外文名 synchrotron radiation X-ray fluorescence analysis 所屬學科 化學 公布時間 2016年 ...
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2017年5月26日啟用。技術指標 1、獨特的UCCOTM技術,更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀,業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和...
X射線螢光分析方法是一種現代光學分析方法。X射線照射物質時,除發生散射現象和吸收現象外,還能產生次級X射線,即螢光X射線。螢光X射線的波長只取決於物質中原子的種類。因此,根據螢光X射線的波長就可確定物質的元素組分;再根據該螢光X...
波長色散x射線螢光光譜方法通則 《波長色散x射線螢光光譜方法通則》是2020年12月1日實施的一項行業標準。備案信息 備案號:78222-2020 備案月報: 2020年第11號(總第247號)